分子篩孔徑測(cè)量?jī)x測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。分子篩孔徑測(cè)量?jī)x測(cè)試范圍廣,可測(cè)定比表面儀積在0.01m2/g以上的范圍內(nèi)的物質(zhì),滿足所有粉體物質(zhì)及多孔物質(zhì)比表面儀積的測(cè)試;樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等。分子篩孔徑測(cè)量?jī)x測(cè)試時(shí)間:bet多點(diǎn)法,同時(shí)可測(cè)試4個(gè)樣品,測(cè)試速度平均每個(gè)樣品每分壓點(diǎn)測(cè)定時(shí)間約5分鐘,平均每個(gè)樣品總用時(shí)約30min。
更新時(shí)間:2025-06-13