華測(cè)儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)，在開(kāi)發(fā)新一代的儲(chǔ)能新材料時(shí)，對(duì)其性能的測(cè)試與分析是至關(guān)重要的一環(huán)，儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)可以通過(guò)各功能測(cè)試模塊，系統(tǒng)的幫組科研人員從能量密度、功率密度、循環(huán)壽命、安全性四個(gè)方面對(duì)新材料性能進(jìn)行分析檢測(cè)，評(píng)估材料的性能指標(biāo)，判斷是否符合應(yīng)用要求。

儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

隨著能源需求的不斷增加以及對(duì)環(huán)境友好能源的需求，新型能源儲(chǔ)能材料的研究成為了當(dāng)前的熱門(mén)領(lǐng)域之一。在開(kāi)發(fā)新一代的儲(chǔ)能新材料時(shí)，對(duì)其性能的測(cè)試與分析是至關(guān)重要的一環(huán)，儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)可以通過(guò)各功能測(cè)試模塊，系統(tǒng)的幫組科研人員從能量密度、功率密度、循環(huán)壽命、安全性四個(gè)方面對(duì)新材料性能進(jìn)行分析檢測(cè)，評(píng)估材料的性能指標(biāo)，判斷是否符合應(yīng)用要求。

系統(tǒng)配置

測(cè)試模塊

01.電壓擊穿（介電場(chǎng)強(qiáng)）

由能量密度可知，擊穿場(chǎng)強(qiáng)相對(duì)于介電常數(shù)對(duì)于材料能量密度的影響更為突出，獲得高能量密度對(duì)復(fù)合材料擊穿場(chǎng)強(qiáng)提出了更高的要求。

通過(guò)上位機(jī)系統(tǒng)控制高壓擊穿測(cè)試模塊，可以安全、便捷、準(zhǔn)確的對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行工頻下的交流、高壓直流擊穿試驗(yàn)，測(cè)試出擊穿場(chǎng)強(qiáng)。甚至可以通過(guò)測(cè)試軟件設(shè)置直流輸出時(shí)間，以完成樣品的極化過(guò)程。

02.高低頻介電頻譜、溫譜

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境下儲(chǔ)能新材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線(xiàn)。

03.高溫絕緣電阻

高精度的電壓輸出與電流測(cè)量，即使在高低溫環(huán)境下可能很好的屏蔽背景電流，保障測(cè)試品質(zhì)，適用與儲(chǔ)能新材料在不同環(huán)境溫度下絕緣性能的檢測(cè)。

04.熱釋電測(cè)試

不論是薄膜還是塊體形式的儲(chǔ)能材料，都可對(duì)其進(jìn)行熱釋電性能測(cè)試。采用電流法進(jìn)行測(cè)量，材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線(xiàn)。

05.TSDC熱刺激極化電流

熱刺激電流（TSC）是研究熱釋電材料中陷阱結(jié)構(gòu)和陷阱結(jié)構(gòu)所控制的空間電荷存貯及運(yùn)輸特性的工具，同時(shí)也是研究熱點(diǎn)材料結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變和分子運(yùn)動(dòng)的重要手段。諸如：分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，通過(guò)TSDC技術(shù)也可以直觀(guān)的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)介電特性、

06.充放電儲(chǔ)能密度測(cè)試

用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能，同目前常見(jiàn)的方法是通過(guò)電滯回線(xiàn)計(jì)算高壓下電介質(zhì)能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷釋放至高壓源上，而非釋放至負(fù)載上，也就是說(shuō)，通過(guò)電滯回線(xiàn)測(cè)得的能量密度會(huì)大與樣品實(shí)際釋放的能量密度，不能正確評(píng)估儲(chǔ)能材料的正常放電性能。華測(cè)充放電測(cè)試具有專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的電容放電電路來(lái)測(cè)量，首先將測(cè)試材料充電到給定電壓，之后通過(guò)閉合高速MOS高壓開(kāi)關(guān)，將存儲(chǔ)在儲(chǔ)能材料中的能量釋放到電阻器負(fù)載中，更符合電介質(zhì)充放電原理。

07.電聲脈沖法空間電荷測(cè)量

空間電荷是指在材料特定區(qū)域內(nèi)電荷分布不均勻的現(xiàn)象。該現(xiàn)象是由于載流子的擴(kuò)散和漂移運(yùn)動(dòng)所導(dǎo)致的，在材料的部區(qū)域產(chǎn)生了電荷累積，從而使材料改變了原本的電中性狀態(tài)�？臻g電荷的存在對(duì)材料的電學(xué)性能有著重要的影響，可能導(dǎo)致電場(chǎng)畸變、絕緣性能下降等問(wèn)題。

電聲脈沖法（PEA）空間電荷測(cè)試可以便捷準(zhǔn)確地測(cè)量固體儲(chǔ)能材料內(nèi)部空間電荷分布,電聲脈沖法可以測(cè)量較厚的介質(zhì)，可以在帶電狀態(tài)下直接測(cè)量絕緣測(cè)試樣品中的空間電荷分布，最小可測(cè)空間電荷密度為4μC·cm^-3,最小可測(cè)試樣厚度為0.2mm。

08.靜電電壓

靜電是一種處于靜止?fàn)顟B(tài)的電荷，雖然其總電荷量不大，但其瞬間釋放所產(chǎn)生的高電壓與大電流非常容易對(duì)周邊電路、設(shè)備乃至人員造成損害。對(duì)儲(chǔ)能材料的靜電性能（包括面電荷密度與電阻）進(jìn)行測(cè)試，可以對(duì)后期防靜電工程設(shè)計(jì)和改善儲(chǔ)能系統(tǒng)的抗靜電性能設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支持，對(duì)周?chē)�電路的靜電敏感電子元器件選型提供參考依據(jù)。

配置模塊

功能	測(cè)試儀表	測(cè)試環(huán)境配件/夾具
電壓擊穿（介電場(chǎng)強(qiáng)）	高壓電源	變溫油浴槽 溫度范圍：RT~250℃（視絕緣介質(zhì)性能）
高低頻介電溫譜	阻抗分析儀	高低溫冷熱臺(tái) 溫度范圍：-185℃~600℃	高溫近紅外爐 溫度范圍：RT~1450℃	高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃
高溫絕緣電阻測(cè)試	高阻計(jì)/源表	高低溫冷熱臺(tái) 溫度范圍：-185℃~600℃	高溫近紅外爐 溫度范圍：RT~1450℃	高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃
熱釋電測(cè)試	高阻計(jì)/靜電計(jì)	高低溫冷熱臺(tái) 溫度范圍：-185℃~600℃	高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃
TSDC熱刺激電流測(cè)試	高阻計(jì)/靜電計(jì)	高低溫冷熱臺(tái) 溫度范圍：-185℃~600℃	高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃
充放電儲(chǔ)能密度測(cè)試	充放電測(cè)試模塊	變溫測(cè)試盒 溫度范圍：RT~250℃（視絕緣介質(zhì)性能）
靜電電壓	高阻計(jì)/靜電計(jì)	靜電變溫測(cè)試罐 溫度范圍：
空間電荷測(cè)試	示波器+高壓電源+功率放大器	電聲脈沖法空間電荷測(cè)試夾具

測(cè)試裝置

（各測(cè)試夾具圖片）

拓展資料

能量密度常用計(jì)算公式：

式中：Uc為電容器的充電能量密度；Ud為電容器的實(shí)際放電能量密度；E為外加電場(chǎng)；D為電位移；Dmax為最大電位移；Dr為剩余電位移；ε0為電介質(zhì)的真空介電常數(shù)；εr為電介質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù)；Eb為擊穿場(chǎng)強(qiáng)；η為充放電效率。

 

關(guān)鍵詞：高溫絕緣電阻  介電溫譜  靜電電壓  

 

  

公司主營(yíng)產(chǎn)品：

幾大系列：功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。

 

       我們深信未來(lái)是一個(gè)更加智慧的，華測(cè)公司與合作伙伴一起，努力研發(fā)更加高效的檢測(cè)系統(tǒng)以工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備，推動(dòng)中國(guó)新材料時(shí)代發(fā)展的進(jìn)程，推動(dòng)的進(jìn)步，并堅(jiān)信因我們而不同。