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X-Ray高解析度無損探傷儀

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企業(yè)檔案

企業(yè)類型:經(jīng)銷商

公司地址:合肥新站區(qū)臨泉路江晨園A9-602#

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產(chǎn)品簡介

View X高解析度X光無損探傷儀主要使用于BGA、CSP、flip chip、半導內(nèi)部以及多層電路板的質(zhì)量檢測,并能快捷清晰地檢測電路板的焊接情況,特別適用生產(chǎn)過程的質(zhì)量檢測和返修后的質(zhì)量檢測。

詳細內(nèi)容

詳細內(nèi)容

公司簡介

View X高解析度X光無損探傷儀主要使用于BGA、CSP、flip chip、半導內(nèi)部以及多層電路板的質(zhì)量檢測,并能快捷清晰地檢測電路板的焊接情況,特別適用生產(chǎn)過程的質(zhì)量檢測和返修后的質(zhì)量檢測。
   View X為X光機系列中的一組或稱為手動型探傷儀,它包括一個基于Windows系統(tǒng)平臺的工作臺(View X -1000),并配有圖像多樣采集功能,能夠做到圖像同步采集與分析。View X光機體現(xiàn)了Scienscope設計中的集使用簡便、圖像清晰、價格合理的理念。

1、可達130千伏,5微米聚焦的X光管能產(chǎn)生125倍的幾何放大率,再加上電腦放大可以達到1000倍的放大率。
2、觀察范圍可從1.5毫米至50毫米。
3、采用激光筆輔助樣品定位。
4、X光管的Z軸可動控制(FOV和放大率控制)。
5、X光管探測器的Z軸可動控制(FOV和放大率控制)。
6、載物臺可作±60°傾斜。

型號

經(jīng)濟型E80/100/130

豪華型L80/100/130

光管

光管類型

封閉管 / Sealed tube

光管電壓

80kV、100KV、130KV

光管電流

0.15mA

光管聚焦尺寸

4.5-7um

冷卻方式

風冷 / air cooling

幾何放大倍率

125X

載物臺

X軸

400mm

450mm

Y軸

400mm

400mm

Z軸

270mm

340mm

旋轉

±60°

增強屏

視場

4/2 inch

解析度

75 lp/cm

X-Ray外殼

尺寸

1450*1400*1750mm

1635*1240*2180mm

重量

約770 kg

約650 kg 

電源

供電方式

AC110-230VAC, 50/60Hz

計算機

品牌

3DFAMILY

操作系統(tǒng)

Windows®XP

顯示器

17”CRT / LCD

CPU

Intel Pentium IV

工作環(huán)境

溫度

0-40℃

輻射安全標準

美國FDA安全輻射標準

保修期

一年保修

 


關鍵詞:無損探傷儀  

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