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精密光學(xué)影像測量儀 VIEW MicroLine 300

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企業(yè)檔案

企業(yè)類型:代理商

公司地址:廣東省東莞市中堂鎮(zhèn)北王西路華迅科技園8棟102室

主營產(chǎn)品:QVI影像測量儀,OGP影像測量儀,VIEW影像測量儀,CCP,RAM, 掃描電鏡,機器租賃,對外尺寸測量。

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產(chǎn)品簡介

MicroLine 系列 主要用于測量半導(dǎo)體、MEMS 晶圓、光刻掩模板等尺寸和涂覆物(多層套刻、圓、對接誤差等)量測。
MicroLine 臨界尺寸測量系統(tǒng)設(shè)計應(yīng)用于半導(dǎo)體和MEMS晶圓以及光掩模CD量測。Microline 系列可自動測量線寬,迭置重合,和其他關(guān)鍵尺寸。

MicroLine 裝備有高性能光學(xué)顯微鏡,高精度運動平臺,可測量0.5 微

詳細內(nèi)容

詳細內(nèi)容

公司簡介

MicroLine-300是一款桌上型半自動CD測量系統(tǒng)。

主要技術(shù)參數(shù):

◆    測量范圍(XYZ):標(biāo)準(zhǔn):200×200×25mm;可選:300x300x25
◆    視場內(nèi)測量精度:10nm(100X 鏡頭);Z軸聚焦范圍:25 mm
◆    視場內(nèi)測量范圍:0.5um~400um;
◆    視場內(nèi)測量重復(fù)性(100x 物鏡):  晶圓上<0.010um(1δ);
                                                    掩模板上0.005um(1δ);   

◆    承重:2kg

◆    標(biāo)配鏡頭10x,可選鏡頭:5X, 20X, 50X, 100X 



MicroLine 300 is a table type semi-automatic CD measurement system .

The main technical parameters :

◆ X,Y,Z Measuring Range (mm):   standard :200x200x25                      optional :  300X300x25 

◆ The field measurement accuracy :10nm (100X lens )          Z Foucsing Range (mm)     :   25

◆ The field measurement range :0.5um~400um;

◆ The field measurement repeatability (100X lens):on wafer < 0 0.010m(1δ);

                                                                             on mask plate 0.005um(1δ);   

◆  Max Recommanded Load      :   2kg

◆  Lens : standard :10X

                 optional :5X,20X,50X,100X。 

 


關(guān)鍵詞:美國進口  高精密高效  光學(xué)影像儀  

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