快速溫變?cè)囼?yàn)箱主要用于測(cè)試電子繼電器在高溫和低溫快速變化環(huán)境下的性能和可靠性。通過(guò)模擬實(shí)際使用中的溫度應(yīng)力，評(píng)估繼電器觸點(diǎn)的耐久性和失效模式，從而驗(yàn)證其在端環(huán)境下的可靠性。

2. 實(shí)驗(yàn)/設(shè)備條件

• 試驗(yàn)設(shè)備：快速溫變?cè)囼?yàn)箱，具備高溫和低溫快速切換功能，溫度范圍需覆蓋繼電器的工作限溫度，并能穩(wěn)定控制溫度變化速率。
• 環(huán)境條件：試驗(yàn)箱內(nèi)需保持一定的濕度和氣壓，以模擬實(shí)際使用環(huán)境。
• 數(shù)據(jù)采集設(shè)備：高性能數(shù)據(jù)采集卡，用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)觸點(diǎn)電壓、電流、接觸電阻等參數(shù)。

3. 試驗(yàn)樣品

• 樣品選擇：從批量生產(chǎn)的繼電器中隨機(jī)抽取30個(gè)試品，剔除損壞、變形或斷裂的樣品，補(bǔ)足試品數(shù)。
• 樣品準(zhǔn)備：確保試品表面清潔，無(wú)明顯污染物或損傷，觸點(diǎn)處于良好狀態(tài)。

4. 試驗(yàn)步驟及條件

1. 預(yù)處理：將試品放置在室溫下進(jìn)行預(yù)處理，確保其達(dá)到試驗(yàn)所需的初始狀態(tài)。
2. 溫度設(shè)置：設(shè)定試驗(yàn)箱的低溫和高溫值分別為工作限溫度的5℃以下和5℃以上，溫度變化速率為60℃/min。
3. 循環(huán)操作：在每個(gè)高低溫區(qū)間內(nèi)進(jìn)行6個(gè)循環(huán)，每次循環(huán)的溫度和溫度需保持穩(wěn)定至少10分鐘。
4. 觸點(diǎn)測(cè)試：在每個(gè)循環(huán)中，監(jiān)測(cè)觸點(diǎn)電壓降、開(kāi)路電壓、接觸電阻等參數(shù)，并記錄觸點(diǎn)的通斷性能。
5. 失效判定：當(dāng)觸點(diǎn)出現(xiàn)熔接、粘接、燃弧時(shí)間過(guò)長(zhǎng)等失效現(xiàn)象時(shí)，停止試驗(yàn)并記錄失效數(shù)據(jù)。

5. 數(shù)據(jù)采集與分析

• 數(shù)據(jù)采集：使用高性能數(shù)據(jù)采集卡實(shí)時(shí)采集觸點(diǎn)電壓、電流、接觸電阻等參數(shù)，記錄每次循環(huán)的測(cè)試結(jié)果。
• 數(shù)據(jù)分析：對(duì)比試驗(yàn)后的數(shù)據(jù)，分析觸點(diǎn)在不同溫度條件下的性能變化，識(shí)別潛在的失效模式。

6. 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與結(jié)論

• 結(jié)果記錄：記錄所有試品的失效次數(shù)、失效類型及對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)時(shí)間。
• 結(jié)論判定：根據(jù)相關(guān)失效數(shù)r和累積相關(guān)試驗(yàn)時(shí)間T的統(tǒng)計(jì)結(jié)果，判斷試品是否滿足可靠性要求。若r≤Ac且T≤rc，則判定為合格；否則為不合格。

7. 失效分析與改進(jìn)建議

• 失效分析：通過(guò)數(shù)據(jù)分析和顯微鏡觀察，分析觸點(diǎn)失效的具體原因，如材料疲勞、接觸不良或設(shè)計(jì)缺陷。
• 改進(jìn)建議：針對(duì)失效原因提出改進(jìn)措施，如優(yōu)化觸點(diǎn)材料、調(diào)整設(shè)計(jì)參數(shù)或改進(jìn)生產(chǎn)工藝。

以上方案僅供參考，在實(shí)際試驗(yàn)過(guò)程中，可根據(jù)具體的試驗(yàn)需求、資源條件以及產(chǎn)品的特性進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整與優(yōu)化。

我要索取聯(lián)系方式