植物冠層產(chǎn)品及廠家

SunScan 冠層分析系統(tǒng)
sunscan冠層分析系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量作物冠層par值提供了關(guān) 于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息,如葉面積指數(shù)(lai)。sunscan探測(cè)器也可被用來(lái)描繪作物冠層par的分布圖。
更新時(shí)間:2025-08-25

最新產(chǎn)品

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