其他產(chǎn)品及廠家
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時(shí)間:2025-06-18
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
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pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個(gè)是type00h配置請求，另個(gè)是type 01h配置請求。
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pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
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pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
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pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
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pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
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emmc 上電時(shí)序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
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emmc 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
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emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
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emmc4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
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相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
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emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
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emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
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emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
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emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進(jìn)入該階段。
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相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時(shí)序測試
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相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試data strobe 時(shí)鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
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相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試
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電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
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數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-06-18
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
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clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
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數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
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復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-06-18
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
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cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-06-18
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-06-18
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-06-18
便攜式過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-06-18
力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動(dòng)聽性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測，在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀、快速和無創(chuàng)的檢查。 這個(gè)聞名于兩步篩查（oae/abr）的新版本聽力篩查儀，具有快速、準(zhǔn)確、直觀的特點(diǎn)。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一，耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽(yù)。 顯著提高工作效率
更新時(shí)間:2025-06-18
kic2000爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：美國kic型號：kic2000測量范圍：-50-1050（℃）測溫分辨率：0.1℃外形尺寸：320*86*26（mm）裝箱數(shù)：1
更新時(shí)間:2025-06-18
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過10年
更新時(shí)間:2025-06-18
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過10年
更新時(shí)間:2025-06-18
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過10年
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布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無線實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無線傳輸，讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí)，無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)
更新時(shí)間:2025-06-18
bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無線實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無線傳輸，讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí)，無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)
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lim 系列爐溫測試儀一款革命性的測試儀器。現(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時(shí)在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線應(yīng)用項(xiàng)目，給予使用者帶來更為輕松的工作需求。
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產(chǎn)品用途：用來對各種加熱或制冷設(shè)備進(jìn)行溫度測量.長時(shí)間溫度監(jiān)控.溫度曲線測繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍：smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進(jìn)行溫度監(jiān)控或測量的行業(yè)
更新時(shí)間:2025-06-18
kic explorer爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：kic型號：explorer 7ch測量范圍：內(nèi)部操作溫度0-85（℃）測溫分辨率：0.1℃測溫精度：+/-1.2℃外形尺寸：200.0×60.0×17.0（mm）裝箱數(shù)：1
更新時(shí)間:2025-06-18
human research tool （hrt） 人因研究系統(tǒng)是贏富儀器新研發(fā)的人因研究平臺，功能強(qiáng)大，支持同步接入多種設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，支持定制化報(bào)告模板。
更新時(shí)間:2025-06-18
d-lab video為您提供靈活的視頻記錄和編碼分析解決方案，允許您進(jìn)行多路視頻記錄，完全不限制視頻通道數(shù)量。您可以使用帶云臺的和光學(xué)變焦的攝像頭進(jìn)行視頻記錄，還可以使用更加便攜的usb網(wǎng)絡(luò)攝像頭，方便外場使用。
更新時(shí)間:2025-06-18
— 可用于真實(shí)汽車在實(shí)際路上的駕駛眼動(dòng)分析，也可以用于模擬駕駛器上— 照明的穩(wěn)定性：smart eye享有盛名的紅外照明技術(shù)使該系統(tǒng)能在所有自然光照條件下發(fā)揮作用，如閃爍的陽光，明顯的陰影以及在黑暗的環(huán)境下。佩戴眼鏡及太陽鏡等不受影響。
更新時(shí)間:2025-06-18
gface面部表情檢測系統(tǒng)，可以自動(dòng)分析被測試者的面部表情，除了安裝 gface軟件，您只需要一個(gè)普通的網(wǎng)絡(luò)攝像頭，包括筆記本電腦的內(nèi)置攝像頭。支持實(shí)時(shí)記錄觀察，也允許導(dǎo)入視頻并進(jìn)行分析。
更新時(shí)間:2025-06-18
antisleep駕駛（疲勞）監(jiān)測系統(tǒng)系統(tǒng)概述與酒后駕駛和超速一樣，疲勞駕駛和注意力不集中也是公認(rèn)的導(dǎo)致交通事故最嚴(yán)重的因素。觀察司機(jī)的警覺性有許多線索，諸如駕駛員的心跳頻率、方向盤軌跡和車道保持等，但這些都遠(yuǎn)不如在真實(shí)的駕駛情況下做的、實(shí)時(shí)的情景監(jiān)測。smart eye antisleep是一個(gè)遠(yuǎn)程的眼睛跟蹤系統(tǒng)，把眼皮閉合、視線方向和頭部姿態(tài)三個(gè)主要監(jiān)測目標(biāo)為反映司機(jī)警覺性，并通過使用smart eye antisleep這一非侵入性設(shè)備精確監(jiān)測。
更新時(shí)間:2025-06-18
產(chǎn)品描述：德國ergoneers公司將dikablis眼動(dòng)追蹤科技與sensics頭戴式顯示器整合，為你提供虛擬現(xiàn)實(shí)場景下的眼動(dòng)追蹤解決方案，讓您追蹤和分析視線。
更新時(shí)間:2025-06-18
最新產(chǎn)品
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