比表面積檢測(cè)儀概述:金埃譜科技是比表面積檢測(cè)儀,bet比表面積測(cè)定儀,稀土比表面積儀,炭黑(白炭黑)比表面積測(cè)試儀,電池材料比表面積分析儀,催化劑孔徑分析儀,分子篩孔隙率測(cè)定儀,氧化鋁比表面儀和活性炭孔容積微孔分析儀,陶瓷粉末孔徑分布測(cè)試儀,吸附劑比表面及孔隙度分析儀國產(chǎn)實(shí)現(xiàn)真正自動(dòng)化智能化測(cè)試技術(shù)的開拓者和引領(lǐng)者,多項(xiàng)獨(dú)特技術(shù)已成為業(yè)內(nèi)廠商仿效典范.
更新時(shí)間:2024-12-27