表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家

絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法
絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法,絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如(長(zhǎng)方體,圓柱體等是固有形狀)及不規(guī)則狀態(tài)(如粉末狀,膏體狀,液態(tài)流動(dòng)狀),目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體,而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少,本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外,還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)。
更新時(shí)間:2025-08-25
糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù),功能介紹:本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試
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石墨粉電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè)
石墨粉電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè),功能介紹:本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治
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鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀廠家
粉末電阻率測(cè)試儀 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試
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塑料絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨,概況:(1)適用標(biāo)準(zhǔn):gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》;en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》
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瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍
瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。
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瑞柯系列普通四探針電阻率測(cè)試儀
瑞柯系列普通四探針電阻率測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn),本機(jī)配置232電腦
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電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀的供應(yīng)商
電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀的供應(yīng)商根據(jù)國(guó)標(biāo)gb11017-89所規(guī)定的測(cè)試方法和技術(shù)要求制造,用來測(cè)試高壓電纜半導(dǎo)電內(nèi)外屏蔽層的電阻率,四端法測(cè)試原理,通過測(cè)試裝置能夠滿足不同線徑之產(chǎn)品測(cè)量其屏蔽層電阻率。
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系列雙電四探針粉末電阻率測(cè)試儀數(shù)據(jù)管理
系列雙電四探針粉末電阻率測(cè)試儀數(shù)據(jù)管理粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時(shí),粉體空隙率非常小,壓實(shí)密度接近于真密度狀態(tài),則此時(shí)測(cè)試出來的粉末電導(dǎo)率為接近于理論值.
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探針測(cè)試儀測(cè)量薄膜的電阻率
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
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粉塵電阻率測(cè)試儀檢測(cè)方法
粉塵電阻率測(cè)試儀檢測(cè)方法yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測(cè)方法第6部分 粉末電阻率的測(cè)定;標(biāo)配手動(dòng)粉末測(cè)試裝置,測(cè)試粉末時(shí)可以通過裝置獲得粉末壓實(shí)后高度、直徑、壓強(qiáng)等數(shù)據(jù),自動(dòng)計(jì)算出所需數(shù)據(jù).能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導(dǎo)率測(cè)量需求..
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雙電測(cè)四探針測(cè)試儀價(jià)格,探針法
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ito導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ito導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,pcb銅箔膜,emi涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜, emi 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等,提供中文或英文兩種語言操作界面選擇,
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上海瑞柯銅線電阻率測(cè)試儀
采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,實(shí)驗(yàn)室;是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具?膳渲貌煌瑴y(cè)量裝置測(cè)試不同類型材料之電阻率。液晶顯示,溫度補(bǔ)償功能,自動(dòng)量程,自動(dòng)測(cè)量電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。恒流源輸出;選配:pc軟件過程數(shù)據(jù)處理和標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器,薄膜按鍵中文或英文兩種語言界面選擇
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簡(jiǎn)易粉末電阻率測(cè)試儀
yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測(cè)方法第6部分 粉末電阻率的測(cè)定;標(biāo)配手動(dòng)粉末測(cè)試裝置,測(cè)試粉末時(shí)可以通過裝置獲得粉末壓實(shí)后高度、直徑、壓強(qiáng)等數(shù)據(jù),自動(dòng)計(jì)算出所需數(shù)據(jù).能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導(dǎo)率測(cè)量需求..
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哪里有雙極板材料四探針低阻/接觸電阻測(cè)試儀
哪里有雙極板材料四探針低阻/接觸電阻測(cè)試儀gb/t 20042.6-2011質(zhì)子交換膜燃料電池 第6部分:雙極板特性測(cè)試方法中四探針低阻測(cè)量和接觸電阻測(cè)試方法及要求
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高溫型粉末電阻率測(cè)試儀
高溫型粉末電阻率測(cè)試儀在高溫環(huán)境下采用壓片法實(shí)時(shí)測(cè)試粉體電性能,分析粉體在高溫環(huán)境下電阻,電阻率(電導(dǎo)率),與壓強(qiáng)和溫度的實(shí)時(shí)變化關(guān)系,模擬材料在使用環(huán)境和自身特性高溫環(huán)境下的電性能狀態(tài).為品質(zhì)管理,新品研發(fā)調(diào)整配比, 生產(chǎn)工藝調(diào)整提供參考數(shù)據(jù).對(duì)材料未來使用的不確定性影響因數(shù)進(jìn)行預(yù)測(cè)分析,建立產(chǎn)品從研發(fā)到生產(chǎn)的數(shù)據(jù)庫.
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多功能材料電阻率測(cè)試儀新品
多功能材料電阻率測(cè)試儀新品采用pc軟件操作;曲線圖譜分析,過程數(shù)據(jù)分析,報(bào)表導(dǎo)出和管理等;配置不同的測(cè)量電極,固體材料的形變(如:壓縮,彎曲,斷裂等情況下)的電性能狀態(tài),從而描述材料性能和壽命等相關(guān)性能指標(biāo).
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系列材料電阻率測(cè)試儀(手動(dòng)型)
系列材料電阻率測(cè)試儀(手動(dòng)型)在不同的壓力下描述導(dǎo)電材料的電性能變化關(guān)系,分析材料的體積電阻、接觸電阻、過渡電阻等數(shù)據(jù);電阻率和電導(dǎo)率(需要人工讀取并輸入樣品厚度可獲得).
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雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀
雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
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薄膜電阻率測(cè)試儀
薄膜電阻率測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀
薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀
導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.
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端子電壓降測(cè)試儀
端子電壓降測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn):qc/t 730-2005 ;iso 6722:2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時(shí)滿足德國(guó)、法國(guó)、韓國(guó)、日本、等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求和測(cè)試規(guī)范,電壓降實(shí)驗(yàn)按qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn)5.7進(jìn)行實(shí)驗(yàn) qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn).
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經(jīng)濟(jì)型表面電阻和體積電阻測(cè)試儀
經(jīng)濟(jì)型表面電阻和體積電阻測(cè)試儀 適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
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炭素材料電阻率測(cè)試儀
ft-310炭素材料電阻率測(cè)試儀四端測(cè)試法測(cè)量碳素材料,石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導(dǎo)電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源,自動(dòng)顯示電流和電壓并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示,自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率等數(shù)據(jù),選配:如配備軟件可,通過軟件操控儀器工作,并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)之圖表和測(cè)試結(jié)果。根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測(cè)試治具.
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恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀
lx-9830g恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀該儀器適用于測(cè)量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降,從而判斷接線口優(yōu)劣,也可檢查插頭線在完成標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的彎曲試驗(yàn)次數(shù)后的斷線情況。該儀器同時(shí)適用于測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器等相關(guān)產(chǎn)品之電壓降測(cè)試本儀器有可調(diào)的大電流輸出,微電壓測(cè)試,數(shù)碼管顯示。滿足標(biāo)準(zhǔn):sae/uscar38 2009
更新時(shí)間:2025-08-25
鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀
鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀 采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。滿足:yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定.
更新時(shí)間:2025-08-25
四探針粉末電阻率測(cè)試儀
四探針粉末電阻率測(cè)試,粉末電阻儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-300I 高精度粉末電阻率測(cè)試儀
ft-300i 高精度粉末電阻率測(cè)試儀ft-300i 高精度粉末電阻率測(cè)試儀 粉末電阻率測(cè)試儀 一、功能介紹:本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-300Ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀
ft-300ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀ft-300ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀滿足:yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定;
更新時(shí)間:2025-08-25
電線電阻率測(cè)試儀 電纜電阻率測(cè)量?jī)x
電線電阻率測(cè)試儀 測(cè)量金屬材料體積電阻率和質(zhì)量電阻率時(shí),可以測(cè)量全規(guī)格銅桿、銅線、銅線坯、鋁桿、鋁線、硬鋁錢、硅合金線的電阻率。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表.電纜電阻率測(cè)量?jī)x 電線電阻率測(cè)試儀 電纜電阻率測(cè)量?jī)x
更新時(shí)間:2025-08-25
材料電導(dǎo)性能測(cè)試儀,自動(dòng)電阻率測(cè)試儀
材料電導(dǎo)性能測(cè)試儀,自動(dòng)電阻率測(cè)試儀ft-320 材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀一.本儀器采用四端測(cè)量方式,測(cè)試材料超低電阻、電阻率和高導(dǎo)電性能數(shù)據(jù)。該儀器采用高精度直流恒流恒壓源,高效率,穩(wěn)定度和準(zhǔn)確性高;有手動(dòng)和自動(dòng)設(shè)定模式;并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示,自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率、電導(dǎo)率、電
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-300A1導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀
ft-300a1導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀 配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板,操作簡(jiǎn)單,耐用,符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-300A2通用型材料電阻率測(cè)試儀
ft-300a2通用型材料電阻率測(cè)試儀 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀
ft-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀輸出采用高精度芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便. ft-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀優(yōu)勢(shì):1.本機(jī)自帶軟件由電腦自動(dòng)控制儀器工作
更新時(shí)間:2025-08-25
方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
上海四探針方塊電阻測(cè)試儀
上海四探針方塊電阻測(cè)試儀 、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求 上海四探針方塊電阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
四探針方阻測(cè)試儀操作方法
四探針方阻測(cè)試儀操作方法 按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針 ft-332四探針 四點(diǎn)探針 四探針測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-333方阻測(cè)試儀
ft-333方阻測(cè)試儀 gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》 ft-333方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀
四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀 顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀
更新時(shí)間:2025-08-25
硅材料測(cè)試儀-四探針法測(cè)試臺(tái)
硅材料測(cè)試儀-四探針法測(cè)試臺(tái) 探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量,更加準(zhǔn)確.硅材料測(cè)試儀-四探針法測(cè)試臺(tái)
更新時(shí)間:2025-08-25
四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)四探針電阻率測(cè)試儀 恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便 ft-336四探針電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀
ft-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測(cè)試平臺(tái) ft-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-343雙電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
ft-343雙電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀 利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響 ft-343雙電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-345雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀
ft-345雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀 ft-345雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀
ft-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀 質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示 ft-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
FT-347雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀
ft-347雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀 ft-347雙電測(cè)電四探針電阻率方阻測(cè)試儀,電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時(shí)間:2025-08-25
四探針測(cè)試儀檢測(cè)范圍
四探針測(cè)試儀檢測(cè)范圍, 配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購. 四探針測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25
粉末高阻測(cè)試儀,粉體阻抗分析儀
粉末高阻測(cè)試儀,粉體阻抗分析儀 絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如(長(zhǎng)方體,圓柱體等是固有形狀)及不規(guī)則狀態(tài)(如粉末狀,膏體狀,液態(tài)流動(dòng)狀),目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體,而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少,本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外,還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)(如粉末狀,膏體狀,液態(tài)流動(dòng)狀)材料的電阻和電阻率 粉末高阻測(cè)試儀,粉體阻抗分析儀
更新時(shí)間:2025-08-25
絕緣粉末電阻率測(cè)試儀
絕緣粉末電阻率測(cè)試儀, 電路結(jié)構(gòu)采用集成電路及高精度芯片控制系統(tǒng),滿足測(cè)試數(shù)據(jù)的高效采集和數(shù)據(jù)的讀取.自動(dòng)量程轉(zhuǎn)換 絕緣粉末電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-08-25

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