BX610-T-112防腐層測厚儀,鍍層厚度測量儀

 產(chǎn)品特點：

 

* 具有自動識別被測基體的材質。

* 有單次和連續(xù)兩種測量方式可選。

* 操作過程中有蜂鳴器提示音，連續(xù)測量時蜂鳴器不發(fā)聲。

* 采用USB數(shù)據(jù)線輸出與PC通訊。

* 提供藍牙Bluetooth數(shù)據(jù)輸出選擇。

主要內容：

 

 

 防腐層測厚儀是一種便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量；既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場；廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測域；是材料保護專業(yè)德杜的儀器。

技術參數(shù)：

 

分辨率

0.01mm / 0.1mm
準確度 ±（1~3%n)或±0.2mm
測試范圍 0~12mm（測量范圍可定制）
測量方法

F磁感應
操作條件

溫度-5~50°C

濕度＜95%RH
電源 4x1.5AAA   7號電池
主機尺寸 140x70x30mm
主機重量 130g （不含電池） 

 

產(chǎn)品配件                                                                                                                                                                  

 

 

 

 

標準配件

 

主機
鐵基（1塊）
校準膜片（1套）
測量傳感器
手提便攜箱
操作說明書
可選配件 USB數(shù)據(jù)線輸出
藍牙Bluetooth數(shù)據(jù)輸出
該公司產(chǎn)品分類： 測氡儀 氧氣檢測儀 氫氣氣體檢測報警儀 氣體檢測報警儀 熏蒸氣體檢測儀 空氣質量檢測儀 垃圾場有毒有害氣體測試儀 酒精測試儀 有毒氣體檢測儀 甲烷檢測儀 可燃氣體檢測儀/探測儀 復合氣體檢測儀 顯微鏡 苯檢測儀 揮發(fā)性有機氣體測試儀 臭氧檢測分析儀 甲醛檢測分析儀 二氧化硫檢測儀 檢測儀 氨氣檢測儀

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀簡介

 
MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀
一、   概述
陶瓷磚厚度測量儀用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產(chǎn)品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量，具有精度高、讀數(shù)準確、操作簡便、攜帶方便等優(yōu)點，是有關生產(chǎn)廠家與質檢單位的良好儀器。
二、技術參數(shù)    
1.測厚儀的精度：±0.1mm
2.測厚儀的測量范圍：
規(guī) 格
最大測量范圍（長×寬）
最大測量厚度
CHD-1000
1000×1000mm
25 mm
CHD-600
600×600 mm
18 mm
 
該公司產(chǎn)品分類： 隔墻板測試儀器系列 玻璃瓶 巖石系列 陶瓷磚檢測系列 波紋管檢測系列 瀝青混凝土測試儀器系列 壓力機萬能機類系列 土工試驗儀器系列 涂料陶瓷磚瓦實驗儀器系列 試驗箱系列 試模系列 篩具振篩機系列 瀝青系列 混凝土，水泥，砂漿實驗儀器系列 公路鐵路檢測系列 水利水電粗粒土試驗儀器系列 微機伺服控制電子萬能試驗機系列 土工合成材料測試儀器系列 建筑節(jié)能材料測試儀器系列 建筑防水材料測試儀器系列

CHD-600陶瓷磚厚度測量儀

產(chǎn)品簡介：

    CHD型陶瓷磚厚度測量儀（以下簡稱測厚儀）是用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產(chǎn)品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量，具有精度高、讀數(shù)、操作簡便、攜帶方便等優(yōu)點，是有關生產(chǎn)廠家與質檢單位的良好儀器。

主要技術參數(shù)    

1.測厚儀的精度：±0.1mm

2.測厚儀的測量范圍：

規(guī)  格

最大測量范圍（長×寬）

最大測量厚度

CHD-1000

1000×1000mm

25 mm

CHD-600

600×600 mm

18 mm

 

臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展

產(chǎn)品簡介: EX3自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。EX3儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數(shù)k。特點:經(jīng)典消光法橢偏測量原理儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結構集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導體激光器作為探測光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實用的樣品測量功能可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率等。便捷的自動化操作儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準等操作。安全的用戶使用權限管理軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U展的儀器功能利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。應用領域:EX3適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。技術指標: 項目 技術指標 儀器型號 EX3 測量方式 自動測量 臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號圖片
型號:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）型號:JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀型號:JX200091EX3自動橢圓偏振測厚儀
【臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展一共有★★30★★多種型號以上只顯示1-3種型號，如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 河北德科機械設備有限公司】臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號內容型號:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）
EM12-PV是采用量拓科技先進的測量技術，針對中端精度需求的光伏太陽能電池研發(fā)和質量控制領域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。EM12-PV用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。EM12-PV融合多項量拓科技專利技術，采用一體化樣品臺技術，兼容測量單晶和多晶太陽電池樣品。一鍵式多線程操作軟件，使得儀器操作簡單安全。特點：粗糙絨面納米薄膜的測量先進的光能量增強技術、低噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號處理方法，實現(xiàn)了對粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽電池表面納米鍍層的檢測。次納米量級的高靈敏度和準確度國際先進的采樣方法、穩(wěn)定的核心器件、高質量的制造工藝實現(xiàn)并保證了高準確度和穩(wěn)定性，測量絨面減反膜的厚度精度優(yōu)于0.2nm。1.6秒的快速測量國際水準的儀器設計，在保證極高精度和準確度的同時，可在1.6秒內快速完成一次測量，可滿足快速多點檢測和批量檢測需求。簡單方便安全的儀器操作一鍵式操作設計，用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導出，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求。應用：EM12-PV適合于光伏領域中端精度要求的工藝研發(fā)和現(xiàn)場的質量控制。EM12-PV可用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面上單層減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n，典型納米膜層包括SiNx，ITO，TiO2，SiO2，A12O3，HfO2等，應用領域包括晶體硅太陽電池、薄膜太陽電池等。EM12-PV也可用于測量光滑平面基底上的單層或雙層納米薄膜，包括膜層的厚度，以及在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。也可用于測量塊狀材料（包括，液體、金屬、半導體、介質等）在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。應用領域包括半導體、微電子、平板顯示等。
技術指標：
項目
技術指標
儀器型號
EM12-PV
激光波長
632.8nm (He-Ne Laser)
膜厚測量重復性（1）
0.2nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
0.2nm (對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
折射率精度（1）
2x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
2x10-3 (對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
單次測量時間
與測量設置相關，典型1.6s
光學結構
PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有極高的準確度）
激光光束直徑
1-2mm
入射角度
40°-90°可手動調節(jié)，步進5°
樣品方位調整
一體化樣品臺輕松變換可測量單晶或多晶樣品
可測量156*156mm電池樣品上每個點
Z軸高度調節(jié)：±6.5mm
二維俯仰調節(jié)：±4°
樣品對準：光學自準直顯微和望遠對準系統(tǒng)
樣品臺尺寸
平面樣品直徑可達Φ170mm
兼容125*125mm和156*156mm的太陽能電池樣品
的膜層厚度范圍
粗糙表面樣品：與絨面物理結構及材料性質相關
光滑平面樣品：透明薄膜可達4um，吸收薄膜與材料性質相關
外形尺寸
887 x 332 x 552mm (入射角為90º時)
儀器重量（凈重）
25Kg
選配件
水平XY軸調節(jié)平移臺
真空吸附泵
軟件
ETEM軟件：
  • 中英文界面可選
  • 太陽能電池樣品預設項目供快捷操作使用
  • 單角度測量/多角度測量操作和數(shù)據(jù)擬合
  • 方便的數(shù)據(jù)顯示、編輯和輸出
  •  豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫支持
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量25次所計算的標準差。性能保證：穩(wěn)定的He-Ne激光光源、先進的采樣方法以及低噪聲探測技術，保證了穩(wěn)定性和準確度一體化樣品臺技術，兼容單晶和多晶硅太陽電池樣品,輕松變換可實現(xiàn)準確測量高精度的光學自準直顯微和望遠系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對準新型樣品調節(jié)技術，有效提高樣品定位精度，并節(jié)省操作時間新型光電增強技術和獨特的噪聲處理方法，顯著降低現(xiàn)場噪聲的影響一體化集成式儀器整體設計，保證了系統(tǒng)穩(wěn)定性，并節(jié)省空間分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量一鍵式軟件設計以及豐富的物理模型庫和材料數(shù)據(jù)庫，方便用戶使用可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片 VP01真空吸附泵 VP02 真空吸附泵 
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200094.htmlEM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）型號:JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀
特別聲明：EM01-RD多入射角激光橢偏儀（研發(fā)級）已升級至EMPro31 型多入射角激光橢偏儀，主要升級內容包括：單次測量速度提高3倍;新的儀器外形;整體穩(wěn)定性增強. 納米薄膜高端研發(fā)領域專用的多入射角激光橢偏儀，用于納米薄膜的厚度、折射率n、消光系數(shù)k等參數(shù)的測量。適用于光面或絨面納米薄膜測量、塊狀固體參數(shù)測量、快速變化的納米薄膜實時測量等不同的應用場合。采用量拓科技多項專利技術，儀器操作具有個性化定制功能，方便使用。特點：高精度、高穩(wěn)定性 一體化集成設計快速、高精度樣品方位對準多入射角度測量快速反應過程的實時測量操作簡單豐富的材料庫及物理模型強大的數(shù)據(jù)分析和管理 應用領域：可對納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k進行快速、高精度、高準確度的測量，尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)可用于表征單層納米薄膜、多層納米層構膜系，以及塊狀材料（基底）。應用領域涉及納米薄膜的幾乎所有領域，如微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、電化學、磁介質存儲、聚合物及金屬表面處理等。性能保證：高穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測技術，保證了系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和高準確度.高精度的光學自準直望遠系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對準穩(wěn)定的結構設計、可靠的樣品方位對準，結合先進的采樣技術，保證了快速、穩(wěn)定測量分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量一體化集成式的儀器結構設計，使得系統(tǒng)操作簡單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間專用軟件方便納米薄膜樣品的測試和建模。 技術指標：

激光波長

 
632.8nm (He-Ne laser)
膜厚測量重復性
0.01nm (對于Si基底上110nm的SiO2膜層)
折射率精度
1x10-4 (對于Si基底上110nm的SiO2膜層)
光學結構
PSCA
激光光束直徑
<1mm
入射角度
40°-90°可選，步進5°
樣品方位調整
三維平移調節(jié)
二維俯仰調節(jié)
光學自準直系統(tǒng)對準
樣品臺尺寸
Φ170mm
單次測量時間
0.2s
推薦測量范圍
0-6000nm
外形尺寸(長x寬x高)
887 x 332 x 552mm (入射角為70º時)
儀器重量（凈重）
25Kg

 

可選配件：NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片VP01真空吸附泵VP02真空吸附泵樣品池 
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200097.htmlEM01-RD 多入射角激光橢偏儀型號:JX200091EX3自動橢圓偏振測厚儀
EX3自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。EX3儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數(shù)k。特點:經(jīng)典消光法橢偏測量原理儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結構集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導體激光器作為探測光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實用的樣品測量功能可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率等。便捷的自動化操作儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準等操作。安全的用戶使用權限管理軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U展的儀器功能利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。應用領域:EX3適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。技術指標:
項目
技術指標
儀器型號
EX3
測量方式
自動測量
樣品放置方式
水平放置
光源
半導體激光器，波長635nm
膜厚測量重復性*
0.5nm (對于Si基底上100nm的SiO2膜層)
膜厚范圍
透明薄膜：1-4000nm
吸收薄膜則與材料性質相關
折射率范圍
1.3 – 10
探測光束直徑
Φ2-3mm
入射角度
30°-90°，精度0.05°
偏振器方位角讀數(shù)范圍
0-360°
偏振器步進角
0.014°
樣品方位調整
Z軸高度調節(jié)：16mm
二維俯仰調節(jié)：±4°
允許樣品尺寸
圓形樣品直徑Φ120mm，矩形樣品可達120mm x 160mm
配套軟件
* 用戶權限設置
* 多種測量模式選擇
* 多個測量項目選擇
* 方便的數(shù)據(jù)分析、計算、輸入輸出
外形尺寸
（入射角度70°時）450*375*260mm
儀器重量（凈重）
15Kg
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量30次的標準差。性能保證:ISO9001國際質量體系下的儀器質量保證專業(yè)的儀器使用培訓專業(yè)的橢偏測量原理課程 
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200091.htmlEX3自動橢圓偏振測厚儀熱門搜索:EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）     VP02 真空吸附泵     EM01-RD 多入射角激光橢偏儀     EX3 自動橢圓偏振測厚儀     EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）     EX3自動橢圓偏振測厚儀     臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展【河北潤聯(lián)科技開發(fā)有限公司】創(chuàng)新科技先鋒品牌★★誠信經(jīng)營企業(yè)★★電子商務企業(yè)獎★★工業(yè)產(chǎn)品推薦★★機械行業(yè)品牌★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號，熱線：【牛經(jīng)理400-076-1255】【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多，詳細配置價格請致電咨詢！[河北德科機械設備有限公司]——是集科研、開發(fā)、制造、經(jīng)營于一體，的工程試驗儀器專業(yè)制造實體。公司主要經(jīng)營砼混凝土儀器,水泥試驗儀器,砂漿試驗儀器,泥漿試驗儀器,土工試驗儀器,瀝青試驗儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗儀器,壓力試驗機養(yǎng)護室儀器及實驗室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術底蘊在強化自主開發(fā)的同時，積極采用國內外先進技術標準，尋求推進與大專院校，科研單位的協(xié)作互補，以實現(xiàn)新產(chǎn)品開發(fā)的高起點，在交通部、建設部及科研所專家們的指導下，產(chǎn)品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設，水電工程和機械，交通、石油、化工等領域的質量檢測。并同國內外各試驗儀器廠建立了長期合作關系，嚴把質量關，價格更優(yōu)惠！公司擁有現(xiàn)代化鋼構倉庫4000多平方米，并配備業(yè)內的裝備設施，車輛出入方便，倉庫管理實現(xiàn)標準化、高效化管理，確保儀器設備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗儀器及測量、測繪電子廠家直供，國內外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網(wǎng)購平臺的之地。全國服務隊伍專業(yè)快捷服務，完善的呼叫中心服務體系，咨詢熱線：[牛經(jīng)理400-076-1255]迅速解決客戶問題，專業(yè)提供優(yōu)質高效的售后服務。潤聯(lián)為您提供詳細的產(chǎn)品價格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時請說明是在潤聯(lián)看到的，并告知型號【關于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠實守信、服務熱情周到的服務宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質和服務。因產(chǎn)品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯(lián)系我們。【關于發(fā)貨】我們會在確認合作方式以及合作達成時為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過請您放心，因為我們的外地客戶非常之多，基本上我們業(yè)務已經(jīng)覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時間，還是價格都是滿意的，同時我們在交付物流公司后將在時間告知客戶，并且我們會將物流費用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴格檢查商品的質量的，請放心購買。聯(lián)系方式:電話:400-076-1255
該公司產(chǎn)品分類： 閥門 泵 勞保 五金 儀器 機械

空間分辨率達50微米晶圓厚度測量儀

晶圓測厚儀,晶圓厚度測試儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀采用非接觸式測量方法，對晶圓的厚度和表面形貌進行測量，可廣泛用于：MEMS， 晶圓，電子器件，膜厚，激光打標雕刻等工序或器件的測量。更多表面殘留檢測儀器請瀏覽：http://www.f-lab.cn/surface-residue.html中國領先的進口精密儀器供應商！

Email: info@felles.cn 或  felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn                    （激光光學精密儀器網(wǎng)）         www.felles.cc                     （綜合性尖端測試儀器網(wǎng)）         www.f-lab.cn                       （綜合性實驗室儀器網(wǎng)）

該晶圓測厚儀,晶圓厚度測量儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀專業(yè)為掩膜，劃線的晶圓，粘到藍寶石或玻璃襯底上的晶圓等各種晶圓的厚度測量而設計，同時，還適合50-300mm 直徑的晶圓的表面形貌測量。

該晶圓測厚儀,晶圓厚度測量儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀采用紅外干涉技術，能夠精確給出襯底厚度和厚度變化 （TTV），也能實時給出超薄晶圓的厚度（掩膜過程中的晶圓），非常適合晶圓的研磨、蝕刻、沉淀等應用。這種紅外干涉技術具有獨特優(yōu)勢，諸多材料例 如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在紅外光束下都是透明的，非常容易測量，標準的測量空間分辨率可達50微米，更小的測量點也可以做到。

該晶圓測厚儀,晶圓厚度測量儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀具有探針系統(tǒng)配件，使用該探針系統(tǒng)后，可以高精度地測量圖案化晶圓,帶 保護膜的晶圓, 鍵合晶圓和帶凸點晶圓（植球晶圓），wafers with patterns, wafer tapes,wafer  bump or bonded wafers 。

該晶圓測厚儀,晶圓厚度測量儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀直接而精確地測量晶圓襯底厚度和厚度變化TTV，同時該晶圓測厚儀能夠測量晶圓薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness） 和凸點厚度（wafer pump height）.，溝槽深度 （trench depth）.詳情瀏覽：http://www.f-lab.cn/surface-residue.html孚光精儀是全球領先的進口科學儀器和實驗室儀器領導品牌服務商，產(chǎn)品技術和性能保持全球領先,擁有包括表面殘留檢測儀器在內的全球最為齊全的實驗室和科學儀器品類，世界一流的生產(chǎn)工廠和極為苛刻嚴謹?shù)馁|量控制體系，確保每個一產(chǎn)品是用戶滿意的完美產(chǎn)品。我們海外工廠擁有超過3000種儀器的大型現(xiàn)代化倉庫，可在下單后12小時內從國外直接空運發(fā)貨，我們位于天津保稅區(qū)的進口公司眾邦企業(yè)（天津)國際貿(mào)易公司為客戶提供全球零延誤的進口通關服務。

該公司產(chǎn)品分類： 成像光譜儀 X射線衍射儀 激光晶體和器件 翹曲度形貌儀

Thick800a電鍍層厚度測量儀

 電鍍層厚度測厚儀根據(jù)測量原理般有以下五種類型:

1）磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料般為:鋼\\鐵\\銀\\鎳.此種方法測量精度高,FT220涂層測厚儀

2）渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度高，NT230涂層測厚儀。

3）超聲波測厚法:目前內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但般價格昂貴，測量精度也不高.

4）電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩

5）X射線測厚法:此種儀器價格非常昂貴（般在十幾萬RMB以上）,適用于些特殊場合.

 

性能特點

 

1、上照式

2、測試組件可升降

3、高精度移動平臺

4、小準直器

5、高分辨率探頭

6、可視化操作

7、自動定位高度

8、自動尋找光斑

9、鼠標定位測試點

10、良好的射線屏蔽

11、超大樣品腔設計

12、測試口安防護

 

性能特點

 

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

 

技術指標

 

型號：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

 

標準配置

 

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機

 

應用領域

 

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。

該公司產(chǎn)品分類： ROHS2.0新增4項鄰苯檢測儀 熱流儀 環(huán)保檢測儀 合金礦石土壤檢測儀 土壤重金屬檢測儀 手持式合金分析儀 X射線熒光光譜儀全元素分析儀 冶金冶煉鋼鐵有色金屬X熒光光譜元素分析儀 X熒光光譜儀 鍍層/膜厚測厚儀 ROHS檢測儀 網(wǎng)格化空氣質量監(jiān)測系統(tǒng)EAQM-100S 大氣顆粒物在線分析儀EPM 1050 水質綜合毒性分析儀 BIO3000 揚塵噪聲在線監(jiān)測儀 EAD-100系列 手持式拉曼光譜儀Raman SK100 珠寶玉石檢測儀 UVN5000 大氣顆粒物在線分析儀 EPM-2050 比色法分析儀器 WAOL 紅外光譜儀 IR

CHY-10塑料薄膜厚度測量儀（千分或百分測量）

商品描述：  

一、設備名稱：塑料薄膜厚度測量儀（千分或百分測量）   型號：CHY-10

二、設備用途:     本儀器是采用高精度數(shù)顯千分表測量塑料薄膜及薄片的專用儀器。具有測量精度高、數(shù)據(jù)穩(wěn)定等特點，同時還可進行英吋和毫米之間變換。

三、主要技術指標:     1測量精度 ： 0.001mm/0.0005″     2測量范圍 ： 0―10mm/0.2″

四、安裝方法:     1將底座從包裝中拿出,放于平穩(wěn)平面上.     2調整調整螺釘,使其處于水平位置.     3將千分表取出安裝在千分表支架上,并調整好上下測量塊,使其間隙為零.     4將千分表支架安裝在底座上的固定槽內,并用鎖緊手柄鎖緊.

五、使用方法：     用鋼絲軸將千分表測量頭抬起幾次后,將千分表值清零（按千分表上的”0”鈕）.然后將測量頭抬起,把被測試樣放在下測量面上，將測量頭放下，這時千分表上的值即為被測試樣厚度值.（如果沒有試樣時,表上仍有讀數(shù),則看測量面上是否有臟東西,如有則用柔軟干凈的布將其擦掉,如果沒有則直接按千分表”0”鈕清零即可。

該公司產(chǎn)品分類： 智能鞋覆膜機XT-46A 智能鞋覆膜機XT-46B 智能鞋覆膜機XT-46B(I) 智能鞋覆膜機XT-46B(II) 智能鞋覆膜機(鞋套機)XT-46C 坤昱智能鞋底覆膜機(鞋套機) 聯(lián)系林先生05925508263 昆山舒美超聲波清洗器系列福建總代 中科美菱低溫保存箱/低溫冰箱 昆山舒美超聲波清洗器系列 海爾超低溫冰箱系列 上海美譜達紫外/可見分光光度計福建總代理 鼓風干燥箱系列 實驗室通用儀器 奧豪斯電子天平/臺稱/快速水分儀系列 芬蘭百得移液器系列/總代理

山東棗莊標智GM130超聲波測厚儀 厚度儀 厚度測量儀

 超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量
*測量范圍：1.0~300毫米（鋼）

*精確度：±（1%H+0.1）毫米

*分辨率：0.01mm

*聲速范圍：1000~9999m/s

*工作頻率：5MHz

*管材測量下限：

Φ10mm探頭：Φ20*3mm（鋼）

Φ6mm探頭：Φ12*2mm（鋼）

*自動校對零點，可對系統(tǒng)誤差進行修正

*線性自動補償，在全范圍內利用計算機軟件對探頭非線性誤差進行修正，以提高準確度

*數(shù)據(jù)儲存/數(shù)據(jù)查詢/數(shù)據(jù)刪除功能

*測量聲速：根據(jù)樣塊厚度直接測出其聲速

*公英制轉換

*低電指示功能

*自動關機功能

*LCD背光燈功能

*保修期：12個月

 

*包裝方式：彩盒+PP工具盒

*電源：3節(jié)1.5V AAA電池

*產(chǎn)品凈重：230克

*產(chǎn)品尺寸：70*145*28毫米

 

本測厚儀采用脈沖反射超聲波測量原理，適用于超聲波能以一恒定速度在其內部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。此儀器可對各種板材和各種加工零件作精確測量？蓮V泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。

濟南興拓檢測儀器有限公司(www.xingtuo1718.com)是“科電”產(chǎn)品駐山東辦事處。借鑒國內外儀器行業(yè)的先進經(jīng)驗和技術,追求人有我優(yōu)、人無我有的市場競爭理念;經(jīng)過多年的發(fā)展已陸續(xù)推廣多種儀器。檢測儀器產(chǎn)品包含:里氏硬度計、洛氏硬度計、地下管道尋線儀,埋地管道防腐層探測檢漏儀、粗糙度儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、測振儀、紅外測溫儀、超聲波探傷儀等近百種產(chǎn)品;公司代理英國易高、英國雷迪、美國華瑞等十多余大類三百多種國內外知名品牌儀器儀表產(chǎn)品。

 

我司主營經(jīng)營：地下管線探測儀，防腐層探測檢漏儀、里氏硬度計、洛氏硬度計、粗糙度儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、測振儀、紅外測溫儀、超聲波探傷儀等近百種產(chǎn)品；公司代理英國易高、英國雷迪、美國華瑞等十多余大類三百多種國內外知名品牌儀器儀表產(chǎn)品。

 

銷售區(qū)域：

北京，天津，重慶，四川，成都，山西，太原，遼寧，沈陽，吉林，長春，黑龍江，哈爾濱，江蘇，南京，浙江，杭州，安徽，合肥，福建，福州，江西，南昌，山東，河南，鄭州，湖北，武漢，十堰，湖南，長沙，廣東，廣州，深圳，廣西，南寧，海南，？，貴州，貴陽，云南，昆明，西藏，拉薩，陜西，西安，甘肅，蘭州，青海，西寧，寧夏，銀川，新疆，烏魯木齊，濟南，青島，淄博，棗莊，東營，煙臺，濰坊，濟寧，泰安，威海，日照，萊蕪，臨沂，德州，聊城,濱州，菏澤

 

 

 

該公司產(chǎn)品分類： 測速儀 測振儀 煙氣分析儀 電纜故障測試儀 電纜測試儀 鹵素水分測試儀 顯微鏡 千/萬分之一天平 數(shù)字酸度計 數(shù)字電導率儀 雙光束紫外可見分光光度計 可見光分光光度計 分光光度計 工業(yè)底片觀片燈 埋地管線檢測儀 里氏硬度計新 管道檢漏儀 黑白密度計新 個人劑量儀器 鍍涂層測厚儀

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀

用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產(chǎn)品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量，具有度高、讀數(shù)、操作簡便、攜帶方便等優(yōu)點，是有關生產(chǎn)廠家與質檢單位的良好儀器。

技術參數(shù)    

1.測厚儀的度：±0.1mm

2.測厚儀的測量范圍：

規(guī) 格

測量范圍（長×寬）

測量厚度

CHD-1000

1000×1000mm

25 mm

CHD-600

600×600 mm

18 mm

 

 

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀

用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產(chǎn)品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量，具有度高、讀數(shù)、操作簡便、攜帶方便等優(yōu)點，是有關生產(chǎn)廠家與質檢單位的良好儀器。

技術參數(shù)    

1.測厚儀的度：±0.1mm

2.測厚儀的測量范圍：

規(guī) 格

測量范圍（長×寬）

測量厚度

CHD-1000

1000×1000mm

25 mm

CHD-600

600×600 mm

18 mm

 

 

 

該公司產(chǎn)品分類： 安全網(wǎng)系列 保溫材料壓縮性能試驗機 導熱系數(shù)綜合測試儀 保溫砂漿拉力試驗機 巖石耐崩解試驗儀 巖石膨脹力儀 巖石彈性模量試驗機 天然飾面石材抗折機 石材耐磨試驗機 數(shù)顯應力直剪儀 便攜式直剪儀 巖石滲透儀 巖石點荷載儀 巖石側向約束膨脹率試驗儀 巖石自由膨脹率試驗儀 巖石壓入硬度計 微機控制巖石抗壓剪試驗機 巖石單軸抗壓強度試驗機 微機控制電液伺服巖石三軸試驗機 恢復系數(shù)測定儀

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