島津X射線熒光光譜儀
X射線熒光光譜儀特點：
最近幾年在眾多企業(yè)中實施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時推薦該裝置作為中國版RoHS第二階段應對手段。 EDX-LE是一款專用于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以可以應對RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析。
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自動老化功能
裝置自檢功能
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| ■ 校準曲線自動選擇功能 |
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在分析報告中如何表示分析結果“低于閾值”“灰色區(qū)域”“閾值范圍內”，也可自定義設置。 
分析報告的模版也可以設定？稍陔S機附帶的模版中選擇。 
ROHS測試儀條件保護功能 通過輸入密碼可變更篩選分析條件和環(huán)境設定等各類設定條件，從而提高軟件操作的安全性和保密性。 
UX-220華唯能量色散X熒光光譜儀
| 技 術 參 數 |
| 1、 儀器尺寸：640（W）x474（D）x412（H）mm |
| 2、 樣品腔尺寸： 小樣品腔：300*300*100mm； 大樣品腔：無限制，小于30公斤 |
| 3、 重量：約48Kg |
| 4、 工作環(huán)境溫度：溫度15—30℃ |
| 5、 工作環(huán)境相對濕度：≤85%（不結露） |
| 6、 可分析元素范圍 ： Cl-U ppm級 |
| 7、 檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm,Cl≤60ppm |
| 8、 測量時間 ：200-400s （ 系統(tǒng)自動調整 ） |
| 9、 分辨率：149±5eV |
| 10、 輸入電源：AC220V～240V，50Hz |
| 11、 額定功率：350W |
| 3.1 探測系統(tǒng) | |
| 1、探測器 類型：電制冷Si-PIN探測器 制造商：美國Amptek公司生產 （采用PIN結構的高性能電致冷半導體探測器） Be窗厚度：1mil DC5V電源供電，USB超高速信號輸出， 致冷方式：采用2級半導體致冷 探測器晶體厚度：500μm 探測靈敏面積：6mm2 集成MCA多道脈沖分析系統(tǒng)，2048道（8192道） 分辨率能達到149±5eV； | |
| 3.2 X光管 | 圖 片 |
| 制 造 商：丹東科維 電 壓: 0 ~ 50 kV 最大電流: 1.0 mA 最大功率: 50 W 燈絲電壓: 2.0V 燈絲電流: 1.7 A 射線取出角：12° 靶 材：Mo Be窗厚度：0.5mm | |
| 3.3 高壓電源 | 圖 片 |
| 生 產 商：美國Spellman公司生產 輸入電壓: DC +24V±10% 輸入電流：4.0A（最大） 輸出電壓: 0 -50KV & 1mA 最大功率：50W 電壓調整率：0.01% （從空載到滿載） 電流調整率：0.01% （從空載到滿載） 紋波系數：0.1% （P-P值），8小時穩(wěn)定性：0.05% | |
| 3.4 微動平臺與高分辨率CCD | |
| 載物測試平臺，配有微調裝置，可方便的實現檢測物的定位與檢測區(qū)域的調整。 130萬像素的CCD攝像頭，可的實時觀察測試區(qū)域狀況，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分。 | |
| 3.5 大樣品腔 | |
| 小樣品腔尺寸（閉倉門測試）：300*300*100mm 大樣品腔尺寸（開倉門測試）：無限制，部分取代手持式功能。 | |
| 3.6 散熱系統(tǒng) | |
| 三維散熱系統(tǒng)，大幅度提供儀器的性、穩(wěn)定性。 | |
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| 三重射線防護系統(tǒng)（軟件、硬件、迷宮式設計），開蓋測試自動警示系統(tǒng)。 | |
| 4.1 儀器操作軟件功能 |
| 1、功能 |
| 1、可以輕松應對歐盟ROHS、無鹵、EN-71、美國HR4040、 ASTM963及其他控制元素的相應環(huán)保指 令 。根據客戶實際情況還可以對銅合金材料進行成分分析，取代了傳統(tǒng)的火花直讀光譜儀。 2、元素分析范圍：從氯（Cl）到鈾（U）， 3、分析方法：綜合應用經驗系數法、基本參數法，FP法等； 4、分析報告：多種語言格式（簡體中文 繁體中文 英文等）及文檔格式報告，如Excel、 PDF等，預設標準模板，用戶還可以自定義模板格式，所有文檔可自由打印和保存； 5、數據自動保存：所有樣品測試后的數據均會自動保存，測試結果具有可追溯性； 6、穩(wěn)定性自檢功能：可即時對儀器當前穩(wěn)定性進行自動檢測； 7、操作界面多語種:英語、簡體中文、繁體中文等。 |
| 2、特點： |
S1 SORTER濟寧魯科代理布魯克手持式X熒光光譜儀，手持式光譜儀，尼通光譜儀，光譜儀價格
S1 SORTER是布魯克公司推出的一款新型手持式合金分析儀，在實驗室和野外環(huán)境中都可使用，性能穩(wěn)定，精度，快速便捷。使用低劑量的X射線管，而非同位素放射源，并有安全密碼保護，對人體沒有傷害，可放心使用。功能模塊：l 定量分析l 牌號識別l 混料識別l 合格與否判定l 圖譜顯示l 2-5秒顯示牌號，5-10秒顯示全部元素含量手持式光譜儀的技術參數：重量：1.7kg尺寸：30cm*10cm*28cm主機顏色：銀色和橙色分析范圍：Ti—U激發(fā)源：X射線管，Ag靶語言：12種語言（包括中文，用戶自選）檢測器：高分辯率Si-PIN檢測器操作系統(tǒng)：掌上電腦：Windows Mobile 5.0Bruker專用軟件冷卻系統(tǒng)：Peltier恒溫冷卻系統(tǒng)，儀器的使用壽命和精度電源：可交、直流供電，充電鋰電池，可連續(xù)工作6-8小時電池充電器：交流交電器，110/220V，50/60HZ顯示器：240*320彩顯；65536像素；背景光可調，觸摸屏數據傳輸：USB存儲卡，藍牙數據存儲：主機：512MB 存儲卡：CF/SD卡，2GB，能存儲幾十萬個牌號和測量數據。高溫測量：熱表面適配器，可測量500℃高溫樣品安全：密碼保護，設有多級安全鎖運輸：減震、抗壓、防水、密封儀器箱 儀器箱顏色：銀色和橙色（可選）質保期：2年環(huán)境范圍：-10℃—50℃ 
手持式光譜儀的應用領域：1. 石油化工2.鍋爐壓力容器3.航空航天4.機械制造與加工5.軍工6.金屬回收與分類7.鋼鐵 8.貴金屬9.電站電廠10.其它
Lab-X3500SCl湖北武漢十堰宜昌襄陽黃石臺式X射線熒光分析儀X射線熒光光譜儀
| 牛津儀器新推出的高精度臺式X射線熒光分析儀，無需氦氣即可分析油品中的硫（S）、氯（Cl）。 Lab-X3500SCl利用新技術測量油品中的硫下限低至3ppm （mg/kg），主要特點有：
Lab-X3500SCl符合下列標準規(guī)格： ISO 20847, ISO 8754, ASTM D4294和IP336 日常操作簡便：只需放入樣品，啟動按鈕，結果幾秒種內顯示。 |
TY-ABR100華南玻璃光彈性系數檢測儀器總代理
深圳供應365NM 518NM 595NM 640NM 790NM對應玻璃光彈系數測試儀
光彈系數測試儀可以測量樣品的光彈性常數.通過精密測量由負荷引起的雙折射，可以精確地“自動”測量光彈性常數.如果從外部附加到彈性體上，則與負荷的大小成比例地樣品內部產生各向異性，表現出雙折射性.這個比例常數被稱為光彈性常數.光彈性常數具有材料固有的值.另外，晶體的情況下，對于晶軸的方向顯示出不同的光彈性常數.下圖中，根據“圓盤的壓縮法”的測量示例如圖所示，根據您的要求，任何負荷方法都可以對應。另外，通過應用ABR校準功能，可以消除樣品中存在的初始雙折射（制造時的殘余應力等），分離負荷產生的雙折射來測量因此，特別是對小的光彈性常數樣品的測量非常有效。
光彈系數測定裝置全自動光彈系數測定裝置TY-10A(高解析度、高速型)雙折射系數的線性解析度高達0.01nm；可同時測量延遲軸和主軸兩個方向；基于光學相位差的雙折射系數顯示；一秒采樣時間；應用：液晶顯示屏膜；聚合物膜的取向；DVD和CD光學系統(tǒng)組件；由于薄膜和基材之間熱膨脹系數不同引起的應力；某些透明材料的內部殘余應力，如光學玻璃和塑料；某些透明材料的熱應力；光彈性系數；全自動光彈系數測定裝置TY-22(自動測量線性和周向雙折射系數，高速型)
光學特性光彈性常數，雙折射
力學特性彈性模量（楊氏模量），破壞強度
通過這些測量，可以分析彈性領域的形態(tài)，以及延展特性和取向特性。
光彈系數測定裝置特點：1）可同時或獨立測量線性和周向雙折射系數；2）無需樣品旋轉，即可測量主軸和延遲軸的線性雙折射系數、圓周雙折射系數的旋轉角；3）一秒采樣時間；4）可選樣品旋轉臺；5）二維或三維顯示雙折射系數的線性解析度高達0.01nm；6）可全自動操作；主要規(guī)格
變形模式：拉伸和壓縮測量
樣品尺寸：拉伸試驗用：10x 80 mm
：壓縮測試用：Φ20mm，thin 15mm
厚度：0.3–最多可支持15mm
驅動方式：通過步進馬達同時驅動左右螺絲
拉伸壓縮距離：100mm Max.
載荷傳感器：額定50N（可更換200N1000N）
恒溫層溫度控制：室溫～200℃
溫度控制精度：±1℃應用：1）液晶顯示屏(TN, STN)的雙折射分布；2）液晶顯示屏(TN, STN)的雙折射系數與電壓的關系；3）電－光學器件(如：Pockel效應、Faraday旋轉、Kerr旋轉等)；4）光學晶體研究；5）聚合物膜研究；全自動光彈系數測定裝置TY-30(超高速型)特點：1）可以實現雙折射系數的高速測量：100微秒；2）維護成本極低；3）二維或三維顯示；4）可選樣品旋轉臺；5）操作方便；應用：1）在靜態(tài)和高速旋轉速度下進行光學儲存器件表征；2）動態(tài)雙折射研究(如液晶、高分子)；3）對某些透明材料的熱沖擊；4）動態(tài)光彈性系數；5）光學相位調制器
手持式X熒光光譜儀直銷
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型號：X-MET5100 品牌：牛津儀器Oxford 產地：芬蘭
進的硅漂移探測器 （SDD）技術， 無與倫比的檢測能力和檢測速度！ 面向材料性鑒定（PMI）的光譜儀 快速牌號鑒定，鋁也可以輕松辨別！
一、儀器介紹： X-MET5100 手持式X射線熒光光譜儀通過硅漂移探測器 （SDD） 和 X 射線管的獨特耦合技術，了鋁及鈦合金的實驗室質量分析的精確性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時的敏感性也是無與倫比的，無需借助復雜的真空泵或氦氣罐等附屬設備就可對鎂、鋁、硅等輕元素進行測量。 硅漂移探測器 （SDD）、45 千伏 X 射線管和經驗系數分析方法的強大結合，意味著 X-MET5100 可以在短短 1 秒鐘內，地分析和確定金屬合金成分。受限物質（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質可以得到測量，其速度之快，在從前是絕無可能的。在幾秒鐘之內，就可以得到 ppm 級的痕量元素檢測結果。 這款堅固的便攜式 XRF 輕元素測試工具，專為以下行業(yè)應用而設計： u 金屬材料性鑒定（PMI） u 廢舊金屬回收行業(yè) u 環(huán)境重金屬監(jiān)測（土壤和RoHS） u 航空和汽車工業(yè) u 礦石勘察、現場挖掘控制和礦山制圖
二、合金分類&廢舊金屬回收分揀的工具： X-MET5100 X射線熒光（XRF）光譜儀能夠以無與倫比的速度和檢測精度，提供的實時檢測結果。 這種的便攜式檢測工具——對金屬回收、塑料回收、電子制品及木材回收而言必不可少 ——實現在無需真空泵或氦氣罐附屬裝置的條件下，即可對6061/6063合金進行分揀。
n 快速牌號鑒定，快速廢舊金屬分揀！ n 1秒無損檢測，完成合金分類和質量控制！ n 各種合號的鑒定，合金分類和牌號鑒定只需1秒！ n 的鋁Al、鎂Mg、硅Si、磷P分析，無需真空泵或氦氣罐； n 快速的鉻Cr、鎳Ni、鉬Mo、銅Cu分析，即使在低含量條件下； n 檢測下限低至ppm級； n 堅固耐用；經IP54 （NEMA 3） 認證，防塵、放潮防潮特高強度的環(huán)境密封型外殼，可經受所有天氣條件； n 電池可提供的操作時間，電池和用戶界面帶有電量指示器； n “一鍵式檢測”，簡便、儀器簡單易學； n 方便的數據存儲與輸出，基于 PDA 的技術的靈活性和簡便性。
X-MET5100 將強大的輕元素檢測能力與 XRF技術的無損特性相結合，是航空航天業(yè)用于分析成品或敏感樣品以及檢測鎂、鋁、硅和磷等輕元素的寶貴工具。核電工業(yè)中的流速促進型腐蝕（FAC）檢測及汽車制造中微合金鋼的質量控制（QC）等具有挑戰(zhàn)性的痕量元素分析可在幾秒鐘內完成！
三、硅漂移探測器技術，大大提高生產力! 進的 X-MET5100將牛津儀器的硅漂移探測器（SDD） 和強大的45千伏 X 射線管結合起來，顯示了儀器設計上的革命性突破。與普通設備相比，應用該項尖端技術能使測量速度提高5倍，進一步優(yōu)化檢測極限并顯著提高測量精度，F在正是使用 X-MET 以提高您的生產效率和篩選分析結果可信度的時候。
四、三種分析模式選擇 1、需精確檢測結果時可選擇可追溯的經驗系數法校準模式 可使用電腦軟件包（任選軟件）創(chuàng)建自定義經驗系數法校準曲線。 2、無標樣時可選擇基本參數校準模式 此通用型校準可測定原子序數從氯到鈾間的30多種元素 （X-MET5000），鎂到鈾間的元素 （X-MET5100） 。 3、如僅需鑒別幾種不同材料時，可選合格/不合格模式 用戶自定義合格/不合格及報警模式。
五、廣泛的開放式牌號庫 X-MET 可允許方便地編輯牌號庫，包括增加新型合金以及為合金命名。 合金庫包括： n 鎳合金 n 不銹鋼 n 鈷合金 n 低合金鋼 n 工具鋼 n 鋼合金 n 鈦合金 n 鋯合金 n 鋁合金 X-MET 能夠存儲數千種牌號，并可方便地添加新元素，或創(chuàng)建自定義的牌號庫。
六、對樣品適配性更優(yōu)，無需前處理 n 只需對準樣品即可進行測試； n 可分析已知和未知樣品； n 可對管件、焊縫的耐蝕性和壓力設備的合金成進行檢測； n 鑒定直徑小于 1 毫米的管線只需幾秒鐘。 |
HeLeeX E8ROHS檢測儀、X射線熒光光譜儀
| 編號 | 名稱 | 技術參數 |
| 01 | 探測器 | Amptek Si-PIN 分辨率：149eV（進口） |
| 02 | 高壓電源 | 管壓：0~50kV 管流：0~2000mA 功率：100W（國產） |
| 03 | 光管 | 功率：100W 冷卻方式：油冷+風冷 靶材：Mo靶（國產） |
| 04 | 準直器 | Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm 可針對樣品，配置專用準直器 |
| 05 | 光路系統(tǒng) | 精密超短光路結構 6種濾光片、6種準直器自由組合（自動切換） |
| 06 | 控制系統(tǒng) | 高速多路AD控制電路 |
| 07 | 供電電源 | AC220V/50Hz |
| 08 | 功率 | 300W |
| 09 | 儀器重量 | 35Kg |
| 10 | 樣品倉大小 | 360mm×330 mm ×50 mm（H） |
| 11 | 外型尺寸 | 510mm×380mm×365mm（H） （人體工學設計） |
| 12 | 標準樣品 | 配備進口標準ERM-EC681K 一塊、ERM-EC680K 一塊； |
| 13 | 校正片 | 配置精致純銀（Ag）校正片一塊； |
| 編號 | 名稱 | 技術指標 |
| 01 | 精密度（EC-681K） | σ（Pb）≤5ppm；σ（Hg）≤5ppm；σ（Br）≤7ppm； σ（Cr）≤6ppm；σ（Cd）≤5ppm； |
| 02 | 度（EC-681K） | σ（Pb）≤7ppm；σ（Hg）≤5ppm；σ（Br）≤5ppm； σ（TCr）≤3ppm；σ（Cd）≤4ppm； |
| 03 | 檢出限 | 對聚合物材料： LOD（Pb）≤5ppm； LOD（Hg）≤5ppm； LOD（Cr）≤5ppm； LOD（TBr）≤5ppm； LOD（Cd）≤5ppm； 對銅基體材料： LOD（Pb）≤20ppm； |
| 04 | 測量時間 | 240秒（軟件自動調整）； |
SPECTRO MIDEX熒光光譜儀
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統(tǒng)，集準直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節(jié)的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業(yè)化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。在珠寶行業(yè)、檢測機構、海關商檢、電子電器工業(yè)以及汽車材材工業(yè)等領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析或快速分析，同時對分析面積及靈敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS檢測、ELV檢測、貴金屬成分分析等。
- 電子行業(yè)電子元器件RoHS指令的快速檢測
- 金屬、汽車、航空領域超大及微小部件的成分檢測
- 珠寶首飾及貴金屬合金的分析
- 司法檢定分析
- 其它微區(qū)分析和較大樣品表面的元素分布分析
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統(tǒng)，集準直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節(jié)的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業(yè)化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。在珠寶行業(yè)、檢測機構、海關商檢、電子電器工業(yè)以及汽車材材工業(yè)等領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析或快速分析，同時對分析面積及靈敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS檢測、ELV檢測、貴金屬成分分析等。
- 電子行業(yè)電子元器件RoHS指令的快速檢測
- 金屬、汽車、航空領域超大及微小部件的成分檢測
- 珠寶首飾及貴金屬合金的分析
- 司法檢定分析
- 其它微區(qū)分析和較大樣品表面的元素分布分析
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統(tǒng)，集準直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節(jié)的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業(yè)化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。在珠寶行業(yè)、檢測機構、海關商檢、電子電器工業(yè)以及汽車材材工業(yè)等領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析或快速分析，同時對分析面積及靈敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS檢測、ELV檢測、貴金屬成分分析等。
- 電子行業(yè)電子元器件RoHS指令的快速檢測
- 金屬、汽車、航空領域超大及微小部件的成分檢測
- 珠寶首飾及貴金屬合金的分析
- 司法檢定分析
- 其它微區(qū)分析和較大樣品表面的元素分布分析
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統(tǒng)，集準直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節(jié)的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業(yè)化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。在珠寶行業(yè)、檢測機構、海關商檢、電子電器工業(yè)以及汽車材材工業(yè)等領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析或快速分析，同時對分析面積及靈敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS檢測、ELV檢測、貴金屬成分分析等。
- 電子行業(yè)電子元器件RoHS指令的快速檢測
- 金屬、汽車、航空領域超大及微小部件的成分檢測
- 珠寶首飾及貴金屬合金的分析
- 司法檢定分析
- 其它微區(qū)分析和較大樣品表面的元素分布分析
UX-310華唯rohs檢測儀XRF測試儀
Ux-310多功能分析儀專門應對RoHS指令，無鹵指令，WEEE指令，土壤、礦石成分分
1．三重射線保護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的
1、儀器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm
x熒光光譜儀
X熒光光譜儀\\ROHS檢測儀
全面應對RoHS/ELV/無鹵素指令限制的有害物質的檢測。用于電子電氣行業(yè)、汽車行業(yè)的快速篩選分析，保證產品以及零部件綠色環(huán)保。用于玩具行業(yè)的有害物質的快速篩選檢測，保證產品和用料的綠色環(huán)保。完全滿足銅制品中對有害金屬測定的環(huán)保要求，快速準確測定銅含量。RoHS檢測儀
技術參數1，測定范圍 13Al－92U 2，樣品室尺寸 最大W370mm×D321mm×H155mm 3，1次濾光片 5種+OPEN自動交換 4，軟件 篩選分析 簡單操作軟件 定性分析 測定•解析軟件 定量分析 校準曲線法 FP法、薄膜FP法、BG－FP法
篩選分析 簡單操作軟件 定性分析 測定•解析軟件 定量分析 校準曲線法 FP法、薄膜FP法、BG－FP法