HP880 燈具 光強(qiáng)分布測(cè)試系統(tǒng) |
本儀器主要用于測(cè)量鹵鎢燈、汽車燈、金鹵燈、射燈、LED半導(dǎo)體發(fā)光器件等反射小型燈具的發(fā)光強(qiáng)度、空間光強(qiáng)分布曲線、法向光強(qiáng)、光束擴(kuò)散角等光度參數(shù)。整個(gè)測(cè)試過程由計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制完成,操作簡(jiǎn)單,使用方便,性價(jià)比高。 |
性能指標(biāo) |
◎ 光度測(cè)量范圍:0.1~30,000lx; |
◎ 光度測(cè)量精度:一級(jí); |
◎ 光束擴(kuò)散角:θ(50%) θ(25%) θ(75%); |
◎ 法向光強(qiáng):I0; |
◎ 角度范圍:-90°~+90°; |
◎ 角度測(cè)量精度:±0.2°; |
◎ 測(cè)量角度間隔選擇:0.1°/0.5°/1°/1.5°; |
◎ 光電探測(cè)器V(λ)修正水平高,達(dá)到國(guó)家一級(jí)照度 |
計(jì)要求; |
◎ 自動(dòng)繪制光強(qiáng)空間分布曲線(極坐標(biāo)和直角坐標(biāo)); |
堅(jiān)固高性能掌上型 X 射線合金分析儀 便攜式合金分析儀 | ||
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技術(shù)規(guī)格
* 檢測(cè)塑膠類樣品和輕質(zhì)金屬材料中的Pb、Cd、Hg、總Br和總Cr檢出限達(dá)到5ppm。 * 檢測(cè)Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊錫中的Pb、Cr等成份檢出限可以達(dá)到100ppm, Cd的檢出限可以達(dá)到20ppm。
儀器配置
* 儀器核心部件采用美國(guó)Amptek公司生產(chǎn)的X-123系統(tǒng),集成了Si-PIN高分辨率半導(dǎo)體X射線探測(cè)器、高性能放大和整形電路、數(shù)字脈沖處理器以及脈沖高度分析器即MCA,最大限度地發(fā)揮探測(cè)器的性能。 * X射線管高壓發(fā)生器采用美國(guó)Spellman公司生產(chǎn)的50W高壓電源,性能指標(biāo),為儀器的運(yùn)行提供了保障。 * 采用專業(yè)廠家生產(chǎn)的薄鈹窗X射線管,功率達(dá)50W,專業(yè)化封裝,輻射安全和各項(xiàng)性能指標(biāo)滿足應(yīng)用要求。 * 配置多種經(jīng)過精心設(shè)計(jì)的濾光片,使得XR-306型X射線熒光能譜儀不僅分析塑膠材料中的有害物質(zhì)時(shí) 可以達(dá)到非常高的精度,同時(shí),分析金屬材料中的Pb和Cd等有害物質(zhì)也可以達(dá)到很好的精度。 * 濾光片自動(dòng)轉(zhuǎn)換讓操作人員無(wú)需掌握深入的理論即可進(jìn)行的測(cè)量。 * 推拉式開蓋方式結(jié)合開放式樣品腔設(shè)計(jì)地解決了超大樣品的檢測(cè)問題,做到小樣品測(cè)試安全方便,大樣品測(cè)試只要按系統(tǒng)提示操作同樣能操作人員安全。 * 精心設(shè)計(jì)的應(yīng)用程序不僅可以使用戶方便的檢測(cè),還提供非常漂亮的檢測(cè)報(bào)告,對(duì)用戶開放報(bào)告格式定制功能,無(wú)論何種格式的報(bào)告都可以定制。此外還提供了數(shù)據(jù)輸出到Excel表格的功能,方便用戶進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。 * 高清晰度攝像頭的設(shè)置不僅使檢測(cè)報(bào)告圖文并茂,結(jié)合所配備的多孔經(jīng)準(zhǔn)直器還可以對(duì)不均勻樣品進(jìn)行定點(diǎn)檢測(cè)。 * 開放式的軟件設(shè)計(jì),出廠前已配置了常用材料的分析方法,用戶經(jīng)過培訓(xùn)以后也可以建立自己的分析方法,拓展儀器的使用范圍,如其它微量元素的分析和鍍層測(cè)厚。
1. DGS-Ⅲ單道掃描等離子光譜儀技術(shù)指標(biāo)
1) 波長(zhǎng)檢測(cè)范圍:190-520nm
2) 波長(zhǎng)示值誤差(理論與實(shí)際誤差):<±0.03nm
3) 波長(zhǎng)掃描重復(fù)性極差:<±0.003nm
4) 儀器分辨率
四鐵光譜線( 309.990nm 309.997nm 310.030nm 310.067nm)可分辨。
5) 分析速度:1分鐘10個(gè)元素以上
6)外形尺寸:1510mmΧ560mmΧ1050mm(長(zhǎng)Χ寬Χ高),加上工作臺(tái)后寬約1000mm
7)重量:260kg
2. 儀器穩(wěn)定指標(biāo)
1) 儀器重復(fù)性(10次測(cè)量短期穩(wěn)定性) <1.5%
2) 儀器穩(wěn)定性(2小時(shí)穩(wěn)定性) <2.0%
儀器所有技術(shù)指標(biāo)全部?jī)?yōu)于JJG768-2005發(fā)射光譜儀國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程對(duì)A類儀器的檢定要求。
蘇州綠頓電子科技有限公司是深圳天瑞儀器有限公司在華東地區(qū)的公公司,總部在美國(guó)。本公司主要生產(chǎn)和銷售X熒光光譜儀EDX3000,它是ROHS指令的精密檢測(cè)儀器,精確度可達(dá)1PPM。 X熒光光譜儀ROHS指令檢測(cè)主要技術(shù)指標(biāo): 一.基本性能指標(biāo)1.元素分析范圍從鉀(K)到鈾(U);2.元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%;3.測(cè)量時(shí)間:60-200秒;4.元素分析檢出限達(dá)1PPm;5.多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%;6.工作穩(wěn)定性為0.1%;7.能量分辨率為165EV;8.溫度適應(yīng)范圍為15℃至26℃;9.電源:交流220V±5V;(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。)10.相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型;11.多變量非線性回收程序;12.任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型;13.一次可同時(shí)分析24個(gè)元素。二.鍍層厚度分析指標(biāo)1.無(wú)損、精確、快速測(cè)量各種電鍍層的厚度;2.膜厚分析精度:0.01um—0.05um;3.極小的測(cè)定面積,可達(dá)0.1mm*0.1mm;4.中間鍍膜及素材的成份對(duì)測(cè)量值不產(chǎn)生影響;5.同時(shí)且互不干擾的測(cè)量上層及中間鍍膜;6.電鍍層可以是鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅等;7.可測(cè)量二元合金、三元合金等的鍍膜厚及成份;8.可分析10層以上的鍍層;9.簡(jiǎn)捷、明了的測(cè)厚分析軟件界面;10.可分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。三.歐盟ROHS指令分析指標(biāo)1.無(wú)損、精確、快速測(cè)量各種塑料、電子元器件、電器、金屬、溶液等物件里面的有毒有害元素;2.對(duì)鎘(Cd)、鉛(Pb)、鉻(Cr)、溴(Br)、汞(Hg)的檢出限達(dá)1PPm;3.簡(jiǎn)捷、明了、便利的軟件操作界面。四.元素含量分析指標(biāo)1.無(wú)損、精確、快速測(cè)量各種樣品中各元素的含量;2.一次可同時(shí)分析樣品中的24個(gè)元素;3.應(yīng)用在化學(xué)工業(yè)、鋼鐵、水泥、陶瓷、電子、環(huán)保、食品、造紙、石油、煤炭、有色金屬等領(lǐng)域的研發(fā)和品質(zhì)管理(生產(chǎn)控制);4.樣品的狀態(tài)可以是固體、液體、粉體。
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