CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機(jī)-用途: CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機(jī)適用于以二維為主的應(yīng)用域,也能做三維輔助測量;在機(jī)械、模具、電子、儀表、五金、塑料,PCB板、手機(jī)配件、連接器、機(jī)械配件的大批量快速檢測。被廣泛應(yīng)用。 自動影像測量儀屬于光學(xué)非接觸測量,與接觸式測量的坐標(biāo)測量機(jī)相比,自動影像測量儀應(yīng)用范圍的擴(kuò)大,在某些范圍內(nèi)開始取代接觸式坐標(biāo)測量機(jī)對電子零配件、精密模具、沖壓件、PCB板、螺紋、齒輪、成形刀具等工件進(jìn)行精密測量,逐漸進(jìn)入電子、機(jī)械、儀表、鐘表、輕工、軍工、航天航空等行業(yè),以及高等院校、研究所、計(jì)量檢定部門的實(shí)驗(yàn)室、計(jì)量室和生產(chǎn)車間,也可以對各種形狀復(fù)雜的平面工件進(jìn)行輪廓和表面形狀的精密測量。
CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機(jī)-特點(diǎn):1. 整機(jī)體化設(shè)計(jì)2. X、Y軸伺服控制,定位精度高、速度快3. 主體材料結(jié)構(gòu)采用花崗巖,儀器穩(wěn)定性更好4. 具有快速自動對焦、自動尋邊、自動測量功能5. 自主開發(fā)QMS3D軟件,功能強(qiáng)大,可滿足客戶不同測量需求6. SPC數(shù)據(jù)處理分析,大批量治具測量7. 程控恒流驅(qū)動式五環(huán)八區(qū)表面冷光光源,可適應(yīng)復(fù)雜的工件測量
CS-4030H廣東萬濠自動影像測量機(jī)-規(guī)格參數(shù):
參數(shù)/機(jī)型 | CS-3020H | CS-4030H |
金屬臺尺寸(mm) | 556*406 | 656*556 |
玻璃臺尺寸(mm) | 350*250 | 450*350 |
運(yùn)動行程(mm) | 300*200 | 400*300 |
儀器外形尺寸(mm) | 910*1265*1820 | 1200*1700*1800 |
儀器重量(kg) | 500 | 600 |
X、Y、Z軸數(shù)顯分辨力 | 0.5μm | |
X、Y示值誤差 | E1XY=(3.5+L/200)μm (其中L為被測長度) | |
Z軸升降行程(mm) | 200 | |
傳動形式 | X、Y、Z軸均采用滾珠線桿傳動軸的形式 | |
攝像機(jī) | 1/2"CCD攝像機(jī) | |
變倍鏡頭 | 0.7—4.5X | |
視頻總倍率 | 23.5—148X | |
物方視場 | 11.1—1.7mm | |
電源 | AC 100-240V 50/60Hz | |
功率 | 500W(不含計(jì)算機(jī)) | |
計(jì)算機(jī) | 計(jì)算機(jī)(標(biāo)配) |
TESA VISIO三坐標(biāo)成像測量系統(tǒng)、三坐標(biāo)測量機(jī)
簡單說明:TESA VISIO瑞士TESA三坐標(biāo)成像測量系統(tǒng),三維影像測量儀,通過視頻成像系統(tǒng)完成非接觸測量,特別適合于彩色塑料件,注塑模具和絲膜,印刷等行業(yè)許多零件的測量要求,配有帶邊緣識別功能的TESA-TOUCH或PC-DMIS VISION測量軟件,具有微小尺寸及其位置的成像測量, 三坐標(biāo), 非接觸, RAD功能。 | ||||
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東莞三坐標(biāo)測量機(jī)、國產(chǎn)三坐標(biāo)測量機(jī)
主要特點(diǎn): ◆ PLMapping測量 ◆ 多種激光器可選 ◆ Mapping掃描速度:180點(diǎn)/秒 ◆ 空間分辨率:50um ◆ 光譜分辨率:0.1nm@1200g/mm ◆ Mapping結(jié)果以3D方式顯示 ◆ 最大8吋的樣品測量 ◆ 樣品精確定位 ◆ 樣品真空吸附 ◆ 可做低溫測量 ◆ 膜厚測量 |
軟件功能豐富,操作簡便 我們具有多年的測量系統(tǒng)操作軟件開發(fā)經(jīng)驗(yàn),,熟悉試驗(yàn)測量需求和用戶的操作習(xí)慣,從而使開發(fā)的這套PMEye-3000操作軟件功能強(qiáng)大且操作簡便。 MEye-3000操作軟件提供單點(diǎn)PL光譜測量及顯示,單波長的X-Y Mapping測量,給定光譜范圍的X-Y Mapping測量及根據(jù)測量數(shù)據(jù)進(jìn)行峰值波長、峰值強(qiáng)度、半高寬、給定波長范圍的熒光強(qiáng)度計(jì)算并以Mapping顯示,Mapping結(jié)果以3D方式顯示。同時具有多種數(shù)據(jù)處理方式來對所測量的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。 |
| 不同制冷溫度下GaN材料的PL譜圖 |
主要功能和技術(shù)參數(shù)
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可選擇探測器
| 可選擇的內(nèi)置激光器:
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