齊全鑄鐵方箱

鑄鐵方箱主要用于零部件平行度、垂直度的檢驗(yàn)和劃線時(shí)支撐工件,一般為邊長(zhǎng)相同的正方體或長(zhǎng)方體,可根據(jù)用戶要求制作各種規(guī)格和等高方箱及長(zhǎng)方筒。方箱檢定的環(huán)境條件:常溫、常濕。鑄鐵方箱按JB/T3411.56-99標(biāo)準(zhǔn)制造,材料為HT200。方箱各工作面不能有銹跡、劃痕、裂紋、凹陷以及影響計(jì)量性能的其他缺陷。非工作面應(yīng)清砂涂漆,棱邊倒角。在方箱內(nèi)壁應(yīng)有標(biāo)牌,并標(biāo)有規(guī)格尺寸,級(jí)別出廠編號(hào)、制造廠名稱。更多相關(guān)產(chǎn)品:鑄鐵平板 | 基礎(chǔ)平臺(tái) | 偏擺儀 更多詳情請(qǐng)查詢:http://www.btjgc.com

多種型號(hào),異形可定做鑄鐵方箱,T型槽方箱,劃線方箱專業(yè)品質(zhì)

華博牌:鑄鐵方箱,T型槽方筒,T型槽方箱,劃線方箱,專業(yè)制造,品質(zhì)

鑄鐵方箱、方筒是機(jī)械制造、維修用來(lái)檢驗(yàn)機(jī)械另件的不平行度、不垂直度和劃線的必要工具,精度分為0級(jí)、1級(jí)、2級(jí)、3級(jí)、級(jí)。方箱包括鑄鐵方箱、鎂鋁方箱、花崗石方箱。按精度來(lái)說(shuō)方箱又分為檢驗(yàn)方箱,劃線方箱,工裝方箱。方箱檢定方法  對(duì)于邊長(zhǎng)為315mm及以下的方箱,檢定時(shí)在方箱被檢面的兩端各放置1mm的量塊,把刀口形直尺放在量塊工作面上,然后在其各被檢點(diǎn)處用量塊試塞,當(dāng)量塊組剛剛?cè)霑r(shí)的尺寸與兩端量塊尺寸之差為該被檢點(diǎn)對(duì)兩端之間的偏差。這一檢定還應(yīng)在方箱工作面的縱向、橫向和對(duì)角線方向的幾個(gè)截面上進(jìn)行。在測(cè)得的各個(gè)位置的直線中誤差方向一致時(shí)取其最大值,當(dāng)誤差方向不一致時(shí)取其最大正差與最大負(fù)差絕對(duì)值之和,為該受檢面平面的平面度。
鑄鐵方箱,鑄鐵方筒,平面可加工空,v型槽,根據(jù)客戶要求制作加工。
華博工量具有限公司產(chǎn)品:鑄鐵平板,檢驗(yàn)平板,劃線平板,大型T型槽平臺(tái),裝配平臺(tái),機(jī)床工作臺(tái),模具墊板,床身鑄件,床身立柱,機(jī)械滑臺(tái),礦石機(jī)械設(shè)備鑄件,鑄鐵方箱,T型槽方筒,鑄鐵彎板,T型槽彎板等。更多產(chǎn)品:http://www.8089190.com
該公司產(chǎn)品分類: 鑄鐵平臺(tái) 花崗巖量具

型號(hào)齊全鑄鐵方箱

 

鑄鐵方箱 主要用于零部件平行度、垂直度的檢驗(yàn)和劃線時(shí)支撐工件,一般為邊長(zhǎng)相同的正方體或長(zhǎng)方體,可根據(jù)用戶要求JB/T3411.56-99標(biāo)準(zhǔn)制造,材料HT200,制作各種規(guī)格和等高方箱及長(zhǎng)方筒。

     1.用途:方箱主要用于零部件的平行度、垂直度等的檢驗(yàn)和劃線。方箱是用鑄鐵制成的具體6個(gè)工作面的空腔正方體,其中一個(gè)工作面上有V型槽。方箱檢定的環(huán)境條件:常溫、常濕。     2.要求:方箱各工作面不能有銹跡、劃痕、裂紋、凹陷以及影響計(jì)量性能的其他缺陷。非工作面應(yīng)清砂涂漆,棱邊倒角。在方箱內(nèi)壁應(yīng)有標(biāo)牌,并標(biāo)有規(guī)格尺寸,級(jí)別出廠編號(hào)、制造廠名稱。     3.精度:對(duì)于刮研制方箱除檢定平面度外,還要用涂色法檢定接觸斑點(diǎn)。在邊長(zhǎng)為25mm任意正方形內(nèi)斑點(diǎn)數(shù)為:1級(jí)、2級(jí)不少于25點(diǎn);3級(jí)不少于20點(diǎn)。     4.方箱檢定方法對(duì)于邊長(zhǎng)為300mm及以下的方箱,檢定時(shí)在方箱被檢面的兩端各放置1mm的量塊,把刀口尺放在量塊工作面上,然后在其各被檢點(diǎn)處用量塊試塞,當(dāng)量塊組剛剛?cè)霑r(shí)的尺寸與兩端量塊尺寸之差為該被檢點(diǎn)對(duì)兩端之間的偏差。這一檢定還應(yīng)在方箱工作面的縱向、橫向和對(duì)角線方向的幾個(gè)截面上進(jìn)行。在測(cè)得的各個(gè)位置的直線中誤差方向一致時(shí)取其最大值,當(dāng)誤差方向不一致時(shí)取其最大正差與最大負(fù)差絕對(duì)值之和,為該受檢面平面的平面度。

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