FT-333盤羊四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

 FT-333盤羊四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

FT-333盤羊四探針電阻率/方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.

本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

FT-333盤羊四探針電阻率/方阻測(cè)試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10-3～2×105Ω/□

2.電阻率范圍：10-4～2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.2%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 普通單電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭：   探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

 

該公司產(chǎn)品分類： 超高阻四探針電阻率測(cè)試儀 超低阻四探針電阻率測(cè)試儀 表面/體積電阻率測(cè)試儀 電導(dǎo)率測(cè)試儀 材料電阻率測(cè)試儀 電線電纜電阻率測(cè)試儀 雙電四探針電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測(cè)試儀 線束電壓降測(cè)試儀 插頭電壓降測(cè)試儀 高溫絕緣電阻率測(cè)試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀 高溫四探針電阻率測(cè)試儀 高溫粉末電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀

FT-336寧波四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

 FT-336寧波四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.

 FT-336寧波四探針電阻率/方阻測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

 

 FT-336寧波四探針電阻率/方阻測(cè)試儀廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

 FT-336寧波四探針電阻率/方阻測(cè)試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10-2～2×103Ω/□

2.電阻率范圍：10-3～2×104Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.5%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 普通單電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭：   探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

 

該公司產(chǎn)品分類： 超高阻四探針電阻率測(cè)試儀 超低阻四探針電阻率測(cè)試儀 表面/體積電阻率測(cè)試儀 電導(dǎo)率測(cè)試儀 材料電阻率測(cè)試儀 電線電纜電阻率測(cè)試儀 雙電四探針電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測(cè)試儀 線束電壓降測(cè)試儀 插頭電壓降測(cè)試儀 高溫絕緣電阻率測(cè)試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀 高溫四探針電阻率測(cè)試儀 高溫粉末電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀

FT-343盤羊雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

 FT-343盤羊雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

 FT-343盤羊雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。

 FT-343盤羊雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10-3～2×105Ω/□

2.電阻率范圍：10-4～2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.2%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 雙電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類： 超高阻四探針電阻率測(cè)試儀 超低阻四探針電阻率測(cè)試儀 表面/體積電阻率測(cè)試儀 電導(dǎo)率測(cè)試儀 材料電阻率測(cè)試儀 電線電纜電阻率測(cè)試儀 雙電四探針電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測(cè)試儀 線束電壓降測(cè)試儀 插頭電壓降測(cè)試儀 高溫絕緣電阻率測(cè)試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀 高溫四探針電阻率測(cè)試儀 高溫粉末電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀

FT-332金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程

金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程滿足標(biāo)準(zhǔn)

按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程產(chǎn)品功能

本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程參數(shù)規(guī)格

規(guī)格型

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方塊電阻范圍

10-5～2×105Ω/□

10-4～2×105Ω/□

10-3～2×105Ω/□

10-3～2×104Ω/□

10-2～2×105Ω/□

10-2～2×104Ω/□

2.電阻率范圍 

10-6～2×106Ω-cm

10-5～2×106Ω-cm

10-4～2×106Ω-cm

10-4～2×105Ω-cm

10-3～2×106Ω-cm

10-3～2×105Ω-cm

測(cè)試電流范圍 

0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

10μA，100µA，1mA，10mA，

100mA

0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

4.電流精度 

±0.1%

±0.2%

±0.2%

±0.3%

±0.3%

±0.3%

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式

普通單電測(cè)量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W 

9.誤差

≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能

選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻

11.測(cè)試探頭

探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

 

 售后服務(wù)

1.質(zhì)保：12個(gè)月，長期維護(hù).

2.培訓(xùn)：操作培訓(xùn)：

電話教學(xué)；U盤教學(xué)文件；遠(yuǎn)程可視溝通；現(xiàn)場(chǎng)教學(xué)；說明書教學(xué)文件

3.保養(yǎng)和維護(hù)：

提供因知保養(yǎng)和維護(hù)文件、標(biāo)識(shí)、表格 、保養(yǎng)提醒.

4.驗(yàn)證文件：

3Q驗(yàn)證文件、計(jì)量證書

5.擴(kuò)展服務(wù)：

延保服務(wù)，樣品測(cè)試服務(wù)，后延服務(wù)，儀器租賃服務(wù).

 金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程

 相關(guān)系列

規(guī)格型

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方塊電阻范圍

10-5～2×105Ω/□

10-4～2×105Ω/□

10-3～2×105Ω/□

10-3～2×104Ω/□

10-2～2×105Ω/□

10-2～2×104Ω/□

2.電阻率范圍 

10-6～2×106Ω-cm

10-5～2×106Ω-cm

10-4～2×106Ω-cm

10-4～2×105Ω-cm

10-3～2×106Ω-cm

10-3～2×105Ω-cm

測(cè)試電流范圍 

0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

10μA，100µA，1mA，10mA，

100mA

0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

4.電流精度 

±0.1%

±0.2%

±0.2%

±0.3%

±0.3%

±0.3%

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式

普通單電測(cè)量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W 

9.誤差

≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能

選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻

11.測(cè)試探頭

探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

 

 

 

 

 

 

 

 

 

該公司產(chǎn)品分類： 粉體強(qiáng)度測(cè)試儀 電絕緣性測(cè)試儀 粒度儀 比重計(jì) 真密度儀 密度儀 密度計(jì) 鹵素水分儀 水分計(jì) 水分儀 水分儀 壓實(shí)密度 壓實(shí)密度測(cè)定儀 壓實(shí)密度測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 高溫電阻率測(cè)試儀 高阻計(jì) 絕緣材料電阻率測(cè)試儀 絕緣材料電阻測(cè)試儀 表面體積電阻測(cè)試儀

FT-331普通四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

 FT-331普通四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.

 FT-331普通四探針電阻率/方阻測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

 FT-331普通四探針電阻率/方阻測(cè)試儀廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

 FT-331普通四探針電阻率/方阻測(cè)試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□

2.電阻率范圍：10-6～2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 普通單電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭：   探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類： 超高阻四探針電阻率測(cè)試儀 超低阻四探針電阻率測(cè)試儀 表面/體積電阻率測(cè)試儀 電導(dǎo)率測(cè)試儀 材料電阻率測(cè)試儀 電線電纜電阻率測(cè)試儀 雙電四探針電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測(cè)試儀 線束電壓降測(cè)試儀 插頭電壓降測(cè)試儀 高溫絕緣電阻率測(cè)試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀 高溫四探針電阻率測(cè)試儀 高溫粉末電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀

FT-335浙江四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

 FT-335浙江四探針電阻率/方阻測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)

按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.

FT-335浙江四探針電阻率/方阻測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

FT-335浙江四探針電阻率/方阻測(cè)試儀產(chǎn)品用途廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

FT-335浙江四探針電阻率/方阻測(cè)試儀產(chǎn)品資料參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10-2～2×105Ω/□

2.電阻率范圍：10-3～2×106Ω-cm                

3.測(cè)試電流范圍：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.5%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 普通單電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭：   探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針產(chǎn)品相冊(cè)

該公司產(chǎn)品分類： 超高阻四探針電阻率測(cè)試儀 超低阻四探針電阻率測(cè)試儀 表面/體積電阻率測(cè)試儀 電導(dǎo)率測(cè)試儀 材料電阻率測(cè)試儀 電線電纜電阻率測(cè)試儀 雙電四探針電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測(cè)試儀 線束電壓降測(cè)試儀 插頭電壓降測(cè)試儀 高溫絕緣電阻率測(cè)試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀 高溫四探針電阻率測(cè)試儀 高溫粉末電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀

FT-345熱銷雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

 FT-345熱銷雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

FT-345熱銷雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試

FT-345熱銷雙電測(cè)電四探針電阻率/方阻測(cè)試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10-3～2×103Ω/□

2.電阻率范圍：10-4～2×104Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.5%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 雙電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類： 超高阻四探針電阻率測(cè)試儀 超低阻四探針電阻率測(cè)試儀 表面/體積電阻率測(cè)試儀 電導(dǎo)率測(cè)試儀 材料電阻率測(cè)試儀 電線電纜電阻率測(cè)試儀 雙電四探針電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測(cè)試儀 線束電壓降測(cè)試儀 插頭電壓降測(cè)試儀 高溫絕緣電阻率測(cè)試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀 高溫四探針電阻率測(cè)試儀 高溫粉末電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀

北京SN/KDY-1四探針電阻率/方阻測(cè)試儀哪家好

四探針電阻率/方阻測(cè)試儀  四探針檢測(cè)儀

型號(hào)：SN/KDY-1

1、北京SN/KDY-1四探針電阻率/方阻測(cè)試儀哪家好概述KDY-1型四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量儀器。它主要由電氣測(cè)量部份北京SN/KDY-1四探針電阻率/方阻測(cè)試儀哪家好（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。本儀器的特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測(cè)全程的電流變化，免除了測(cè)量電流/測(cè)量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測(cè)量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測(cè)量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān)，在測(cè)量某些箔層材料時(shí)，可免除探針尖與被測(cè)材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護(hù)箔膜。儀器配置了本公司的專利產(chǎn)品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測(cè)量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器，測(cè)量硅片時(shí)可自動(dòng)進(jìn)行厚度、直徑、探針間距的修正，并計(jì)算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的最大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習(xí)庋。給測(cè)量帶來很大方便。2、北京SN/KDY-1四探針電阻率/方阻測(cè)試儀哪家好主機(jī)技術(shù)能數(shù)（1）測(cè)量范圍：     可測(cè)電阻率：0.0001～19000Ω?cm     可測(cè)方塊電阻：0.001～1900Ω?□（2）恒流源：     輸出電流：DC  0.001～100mA   五檔連續(xù)可調(diào)    量程：0.001～0.01mA           0.01～0.10mA           0.10～1.0mA           1.0～10mA           10～100mA恒流精度：各檔均低于±0.05%（3）直流數(shù)字電壓表：     測(cè)量范圍：0～199.99mV     靈敏度：10μV     基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）     輸出電源：≥1000ΩM（4）供電電源：     AC  220V±10%    50/60  Hz    功率：12W（5）使用環(huán)境：溫度：23±2℃   相對(duì)濕度：≤65%無較強(qiáng)的電場(chǎng)干擾，無強(qiáng)光直接照射（6）重量、體積：主機(jī)重量：7.5kg體積：365×380×160（單位：mm  長度×寬度×高度）

該公司產(chǎn)品分類： 測(cè)距儀、測(cè)速儀 硬度計(jì) 流量計(jì) 其他行業(yè)專用儀器儀表 軸承測(cè)試儀、軸承加熱器 汽車行業(yè)檢測(cè)儀 位移傳感器/位移測(cè)量儀 水文儀器 轉(zhuǎn)速測(cè)量儀/轉(zhuǎn)速儀/轉(zhuǎn)速表 振動(dòng)分析儀/測(cè)振儀 激光測(cè)試儀器 設(shè)備/機(jī)械故障檢測(cè)儀 前照燈檢測(cè)儀 行業(yè)專用儀器儀表 其他物理學(xué)儀器 反射率儀 白度計(jì)/白度儀 比色計(jì)/比色儀/色度儀 測(cè)色儀/色差計(jì) 冰點(diǎn)儀/比重計(jì)

DL10-KDY-1數(shù)字式四探針測(cè)試儀， 方阻測(cè)試儀

 數(shù)字式四探針測(cè)試儀 方阻測(cè)試儀 方阻檢測(cè)儀

型號(hào): DL10-KDY-1

KDY-1型四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量儀器。它主要由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。

本儀器的特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測(cè)全程的電流變化，免除了測(cè)量電流/測(cè)量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測(cè)量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測(cè)量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān)，在測(cè)量某些薄層材料時(shí)，可免除探針尖與被測(cè)材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護(hù)箔膜。儀器配置了本公司的利產(chǎn)品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測(cè)量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器或KDY測(cè)量系統(tǒng)，測(cè)量硅片時(shí)可自動(dòng)進(jìn)行厚度、直徑、探針間距的修正，并計(jì)算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的最大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均勻度，給測(cè)量帶來很大方便。

主機(jī)技術(shù)能數(shù)

（1）測(cè)量范圍：

可測(cè)電阻率：0.0001～19000Ω·cm

可測(cè)方塊電阻：0.001～190000Ω·□

（2）恒流源：

輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續(xù)可調(diào)

量程：0.001～0.01mA 0.01～0.10mA

0.10～1.0mA 1.0～10mA 10～100mA

恒流精度：各檔均低于±0.05%

（3）直流數(shù)字電壓表：

測(cè)量范圍：0～199.99mV

靈敏度：10μV

基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）

輸入阻抗：≥1000MΩ

（4）測(cè)量精度：電器精度：1－1000歐姆≤0.3%

整機(jī)測(cè)量精度：1－1000歐姆·厘米≤3%

（5）供電電源：

AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W

（6）使用環(huán)境：溫度：23±2℃ 相對(duì)濕度：≤65%

無較強(qiáng)的電場(chǎng)干擾，電源隔離濾波，無強(qiáng)光直接照射

（7）重量、體積：

主機(jī)重量：7.5kg

體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×高度）

 

該公司產(chǎn)品分類： 教學(xué)儀器 照度光譜系列 邏輯棒/筆 測(cè)氡儀 氧氣檢測(cè)儀 氫氣檢測(cè)報(bào)警儀 氣體檢測(cè)報(bào)警儀 熏蒸氣體檢測(cè)儀 空氣質(zhì)量檢測(cè)儀 垃圾場(chǎng)氣體檢測(cè) 酒精測(cè)試儀 有毒氣體檢測(cè)儀 甲烷檢測(cè)儀 可燃?xì)怏w檢測(cè)儀/探測(cè)儀 復(fù)合氣體檢測(cè)儀 苯檢測(cè)儀 揮發(fā)性有機(jī)氣體 臭氧檢測(cè)分析儀 甲醛檢測(cè)/分析 氧氣檢測(cè)報(bào)警儀

FT-340雙電四探針方阻測(cè)試儀

 雙電四探針方阻測(cè)試儀雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。

FT-340系列雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

 

             

1.方塊電阻范圍

10-4～2×105Ω/□

10-4～2×103Ω/□

10-3～2×105Ω/□

10-3～2×103Ω/□

10-2～2×105Ω/□

10-2～2×103Ω/□

2.電阻率范圍

10-5～2×106Ω-cm

10-5～2×104-cm

10-4～2×106Ω-cm

10-4～2×104-cm

10-3～2×106Ω-cm

10-3～2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍

0.1μA,μA,0μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

0.1μA,μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度

±0.1%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

大屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式

雙電測(cè)量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差

≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能

選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)

 

 

ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個(gè)注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原

 

 

 

該公司產(chǎn)品分類： 粉體強(qiáng)度測(cè)試儀 電絕緣性測(cè)試儀 粒度儀 比重計(jì) 真密度儀 密度儀 密度計(jì) 鹵素水分儀 水分計(jì) 水分儀 水分儀 壓實(shí)密度 壓實(shí)密度測(cè)定儀 壓實(shí)密度測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 高溫電阻率測(cè)試儀 高阻計(jì) 絕緣材料電阻率測(cè)試儀 絕緣材料電阻測(cè)試儀 表面體積電阻測(cè)試儀

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑