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C型探棒|IP3X試驗(yàn)探棒|IP30試驗(yàn)探針
CUS1319北京寶盈科技發(fā)展有限公司 CUS1319同軸雙刀雙擲轉(zhuǎn)換開關(guān)
北京寶盈科技發(fā)展有限公司提供的 CUS1319同軸雙刀雙擲轉(zhuǎn)換開關(guān)是一款適用于大功率RF及微波信號(hào)切換，RF 收/發(fā)轉(zhuǎn)換 ，具備自鎖存（自保持），帶狀態(tài)指示功能的射頻信號(hào)切換轉(zhuǎn)換開關(guān)。
精品產(chǎn)品推薦：
自鎖型雙刀雙擲開關(guān)、切換開關(guān)、雙刀雙擲同軸轉(zhuǎn)換切換開關(guān)、射頻微波同軸轉(zhuǎn)換開關(guān)、
手持式DTMB數(shù)字電視場(chǎng)強(qiáng)儀
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BQCL-201比色法余氯在線分析儀
Ø DPD標(biāo)準(zhǔn)比色法；
Ø 連續(xù)運(yùn)行30天內(nèi)無(wú)需更換試劑，操作簡(jiǎn)單，運(yùn)行維護(hù)費(fèi)用低；
Ø 具有自動(dòng)清洗功能，減少維護(hù)量；
Ø MODBUS RS485輸出；
Ø 具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能；
Ø 具有試劑余量報(bào)警功能；
Ø 測(cè)量模式：連續(xù)測(cè)量模式，周期測(cè)量模式（測(cè)量周期可調(diào)）。
BQCL-201比色法余氯在線分析儀典型應(yīng)用
適合自來水、循環(huán)冷卻水、污水等加氯消毒過程的余氯/總氯測(cè)量和自來水管網(wǎng)的余氯/總氯測(cè)量。
BQCL-201比色法余氯在線分析儀技術(shù)參數(shù)
| 測(cè)量范圍 | 0~5ppm余氯/總氯 |
| 準(zhǔn) 確 度 | ±5%讀數(shù)或±0.03ppm Cl2，取大者 |
| 檢 測(cè) 限 | 0.03mg/L |
| 顯 示 器 | 70mm×48 mm 液晶顯示 |
| 校 正 | 使用默認(rèn)的校正曲線 |
| 運(yùn)行條件 | 樣品流速：200-400mL/min 樣品進(jìn)口壓力：0.1~5bar 樣品溫度：5~40℃ |
| 電 源 | 220-230VAC，50/60Hz |
| 輸 出 | 4-20mA |
| 通 訊 | MODBUS RS485 |
| 繼 電 器 | 2組繼電器，可設(shè)置濃度報(bào)警 |
| 存儲(chǔ)溫度范圍 | -40～60℃ |
| 存儲(chǔ)濕度 | 濕度：10-90%,不凝結(jié) |
| 儀器尺寸 | 350mm*186mm*460mm*長(zhǎng)*寬*高） |
| 重 量 | 約9KG |
| 安裝方式 | 壁掛 |
HK紙張Cobb檢測(cè)儀,紙張吸收性檢測(cè)儀,四川宜賓廠家
紙張檢測(cè)儀器Cobb吸收性測(cè)定儀是用于檢測(cè)紙和紙板表面吸水性能的專用檢測(cè)儀器，亦有人稱之為紙箱表面吸收重量測(cè)定儀。
本儀器主要用于在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的條件下，測(cè)定施膠紙和紙板表面吸收水量。那些比較疏松的紙（如新聞?dòng)∷⒓垼⑽词┠z的紙（如吸墨紙）及其他吸水性相當(dāng)高的紙都不適用本儀器。
儀器采用可勃（Cobb）試驗(yàn)方法，因此也稱之為可勃吸收性測(cè)定儀。
楊先生 18-91-32-56-74-9
全國(guó)統(tǒng)一服務(wù)電話：400-801-7718
>>符合標(biāo)準(zhǔn)
QB/T1668《可勃吸收性測(cè)定儀》
GB/T1540《紙和紙板吸水性的測(cè)定法（可勃法）》
ISO535《紙和紙板—吸水性的測(cè)定—可勃（Cobb）法》
>>技術(shù)參數(shù)
Ø試驗(yàn)面積：100cm2±0.2cm2
Ø試驗(yàn)用水量：100ml±5ml
Ø壓輥質(zhì)量：10kg±0.5kg
Ø壓輥長(zhǎng)度：200mm±0.5mm
Ø外型尺寸：（430×285×300）mm
Ø工作環(huán)境：溫度（20±10）℃，濕度＜85%
Ø重量：約32kg。
紙與紙板表面吸水量（Cobb）值定義：?jiǎn)挝幻娣e的紙和紙板在一定壓力、溫度下，在規(guī)定時(shí)間內(nèi)表面所吸收的水量，以g/㎡計(jì)。具體公式如下：
C=（G2-G1）×100。
式中： C —— 可勃吸水值；
G2 —— 吸水后稱出之試樣質(zhì)量；
G1 —— 吸水前稱出之試樣質(zhì)量。
>>專業(yè)技術(shù)
不銹鋼的軸承，使用起來更加方便，快速，
組裝方便，操作輕松，取樣誤差小，只有±0.2mm，是國(guó)內(nèi)衛(wèi)生紙生產(chǎn)廠家指定取樣應(yīng)商。
MCH-2001J電腦膜層測(cè)厚儀
MCH系列電腦膜層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無(wú)校正旋鈕，單探頭全量程測(cè)量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國(guó)際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
MCH-2001J電腦膜層測(cè)厚儀 本儀器采用磁性測(cè)厚法，方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻鍍層，或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑，瀝青等涂層的厚度，該儀器廣泛用于機(jī)械、汽車、造船，石油、化工、電鍍、噴涂、搪瓷等行業(yè)。是鐵磁材料保護(hù)層質(zhì)量檢測(cè)的必備工具。
MCH-2001J電腦膜層測(cè)厚儀
| 性能指標(biāo) | MCH-2001J | MCH-2002J | MCH-2003J | MCH-2004J | |
| 測(cè)量范圍 | 0-5000um | 0-450um | 50-10000um | 0-3000um | |
| 測(cè)量誤差 | <3%+1um | <3%+0.5um | <3%+10um | <3%+1um | |
| 最小示值 | 1um | 0.1um | 10um | 1um | |
| 適用范圍 | 油漆、橡塑、搪瓷等涂層 | 電鍍、油漆等要求精度較高涂層 | 瀝青、噴塑、橡膠等涂層 | 搪玻璃設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)指定產(chǎn)品 | |
| 主要功能 | 顯示方式 | 7位液晶數(shù)字顯示 | |||
| 測(cè)量 | 單探頭全量程測(cè)量 | ||||
| 存貯 | 已存入測(cè)量數(shù)據(jù)800個(gè) | ||||
| 讀 | 讀出已存入測(cè)量數(shù)據(jù) | ||||
| 統(tǒng)計(jì) | 顯示已存數(shù)的最小值、最大值、均值 | ||||
| 電源 | 5#干電池3節(jié) | ||||
| 功耗 | 最大功耗100mw | ||||
| 外形尺寸 | 134×72×31mm | ||||
| 重量 | 150g | ||||
| 使用環(huán)境 | 溫度：-10℃~+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90% | ||||
| 備注：可配檢測(cè)管道內(nèi)防腐層的伸縮式長(zhǎng)柄探頭（1米左右） | |||||
ICT4080P電路板故障檢測(cè)儀ICT4080P
ICT4040P/4080P/8080P 電路板故障檢測(cè)儀[ICT]系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對(duì)各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。產(chǎn)品特點(diǎn)：◆的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較◆與進(jìn)口同類儀器比較，性價(jià)比更優(yōu)，操作更方便◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試◆本功能亦可通過學(xué)習(xí)記錄，比較分析來測(cè)試全功能ASA+ICT測(cè)試器 ASA（Analong signature Analysis）對(duì)元件每個(gè)管腳提供一個(gè)安全、低功率的掃描驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲(chǔ)，以備比對(duì)。所有測(cè)試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會(huì)傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲(chǔ)各類IC每個(gè)管腳V/I曲線圖形，并且對(duì)各類分立元件如：電阻、電容等同樣。ICT（In circuit Testing）它能把待測(cè)元件與PC資料庫(kù)內(nèi)相對(duì)應(yīng)的元件資料作邏輯功能測(cè)試比較，測(cè)試時(shí)可在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)，元件輸入管腳的輸入波形，同時(shí)顯示相應(yīng)輸出管腳的實(shí)測(cè)波形及標(biāo)準(zhǔn)波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測(cè)試IC好壞，也可測(cè)試分析，還可識(shí)別不明型號(hào)的IC。[ICT]系列檢測(cè)儀檢測(cè)更加■ 功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開路門的測(cè)試 ■ 功能測(cè)試外供電源穩(wěn)定可靠——各種大、中、小型被測(cè)電路板皆可測(cè)試 ■ 功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障 ■ V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線 ■ V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——V/I曲線測(cè)試穩(wěn)定 ■ V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——確保各類器件的V/I測(cè)試集成電路在線功能測(cè)試 本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲(chǔ)器等千余種集成電路。 1、快速測(cè)試：直接顯示測(cè)試結(jié)果，迅速確定可疑IC 2、分析測(cè)試：顯示全部測(cè)試過程，測(cè)試激勵(lì)。預(yù)期和實(shí)際響應(yīng)，幫助分析故障原因 3、器件識(shí)別：查找無(wú)標(biāo)記型號(hào)IC或同功能不同型號(hào)的IC。集成電路在線狀態(tài)測(cè)試通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)無(wú)故障IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 2、狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫(kù)中的各IC的狀態(tài)資料。集成電路離線功能測(cè)試離線測(cè)試IC功能好壞，自動(dòng)識(shí)別未知型號(hào)的芯片IC邏輯圖查詢可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數(shù)。V/I曲線測(cè)試 通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC 1、曲線學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)無(wú)故障板上各節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 2、曲線比較：同故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC是否損壞 3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫(kù)中電路板上各個(gè)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大規(guī)模集成電路分析測(cè)試網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試 使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系，輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采用了四種模式： 1、探棒對(duì)探捧（“棒”—“棒”模式） 2、探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒”—“夾”模式） 3、測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾”—“棒”模式） 4、測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾”—“夾”模式）開發(fā)編譯 TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說明文件。該說明文件可以通過任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。 1、TVED允許兩種建立測(cè)試圖形和方法 a）在TVED圖形界面上直接建立 b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結(jié)果 2、編輯測(cè)試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對(duì)測(cè)試圖形加以調(diào)整、修改。3、4種測(cè)試方式：
a）完整執(zhí)行一個(gè)測(cè)試 b）執(zhí)行一個(gè)測(cè)試的一部分c）循環(huán)執(zhí)行 d）單步運(yùn)行型號(hào) ICT4040P ICT4080P ICT8080P通道 ICTF: 40thV/I曲線:40th ICTF: 40thV/I曲線: 80th ICTF: 40×2thV/I曲線: 80th補(bǔ)充：ICT4080P/8080P系統(tǒng)功能·單個(gè)器件功能測(cè)試 ·IC狀態(tài)測(cè)試 ·VI曲線分析 ·PROM操作 ·LSI在線分析 ·數(shù)據(jù)庫(kù)整理 ·系統(tǒng)維修日記·器件端口特征曲線測(cè)試·使用原測(cè)試軟件·TVDE測(cè)試平臺(tái)·網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 對(duì)應(yīng)于“單個(gè)器件功能測(cè)試”中的12個(gè)功能 MSI在線功能測(cè)試 MSI離線功能測(cè)試 MSI在線型號(hào)識(shí)別 MSI離線型號(hào)識(shí)別 MSI在/離線循環(huán)測(cè)試 RAM離線測(cè)試 RAM在線快速測(cè)試 RAM在線測(cè)試 PROM離線空檢測(cè) LSI離線功能測(cè)試 LSI在線功能測(cè)試 LSI離線測(cè)試庫(kù)更新對(duì)應(yīng)于“PROM操作”中的11個(gè)子功能 PROM離線學(xué)習(xí) PROM離線比較 PROM離線學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容顯示 PROM離線學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容轉(zhuǎn)換 PROM在線快速學(xué)習(xí) PROM在線快速比較 PROM在線快速顯示 PROM在線學(xué)習(xí) PROM在線比較 PROM在線學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容顯示 PROM在線學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容轉(zhuǎn)換對(duì)應(yīng)于“VI曲線分析”中的4大功能 VI曲線學(xué)習(xí) VI曲線比較 VI曲線顯示 雙板直接對(duì)比對(duì)應(yīng)于“IC狀態(tài)測(cè)試”中的3大功能 IC狀態(tài)學(xué)習(xí) IC狀態(tài)比較 IC狀態(tài)顯示對(duì)應(yīng)于“LSI在線分析”中的3大功能 LSI在線學(xué)習(xí) LSI在線比較 LSI在線顯示對(duì)應(yīng)于主框架的17項(xiàng)功能按鈕 單個(gè)器件功能測(cè)試 IC狀態(tài)測(cè)試 VI曲線分析 PROM操作 LSI在線分析 模擬器件直接測(cè)試 系統(tǒng)自檢 數(shù)據(jù)庫(kù)整理 建立系統(tǒng)維修日記文件 原測(cè)試軟件 TVDE測(cè)試平臺(tái) 網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 交疊方式排列窗口 非交疊方式排列窗口 分割窗口 主界面 進(jìn)入系統(tǒng)幫助 對(duì)應(yīng)于“模擬器件直接測(cè)試”菜單的3大功能 模擬器件直接測(cè)試 模擬器件型號(hào)識(shí)別 添加新器件熱鍵·Alt+L 進(jìn)入“LSI在線分析”界面 ·Alt+M 進(jìn)入“數(shù)據(jù)庫(kù)整理”界面·Alt+N 進(jìn)入“網(wǎng)絡(luò)測(cè)試”界面 ·Alt+O 進(jìn)入原測(cè)試軟件界面·Alt+R 進(jìn)入“PROM操作”界面 ·Alt+S 進(jìn)入“IC狀態(tài)測(cè)試”界面·Alt+T 進(jìn)入“系統(tǒng)自檢”界面 ·Alt+V 進(jìn)入“VI曲線分析”界面·F1 獲取幫助 ·Alt+X 退出本系統(tǒng)系統(tǒng)運(yùn)行環(huán)境操作系統(tǒng) ： Windows 98 或 Windows NTC P U ： PII 以上內(nèi) 存 ： ≥16M硬盤空間 ： ≥25M鼠 標(biāo) ： 必備，可為任意型號(hào)顯 示 ： 1024×768，24位真彩色電 源 ： 220V/50HzCJF50L供應(yīng)CJ全程透明可視雙層玻璃反應(yīng)釜五十升
GRI-9106-P-VOC固定在線式苯二甲苯ＴＶＯＣ檢測(cè)報(bào)警儀
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PDM-820AC西安成碩電力科技有限公司 張麗 029－88455365
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