掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-08-25
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-08-25
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-08-25
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-08-25
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-08-25
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-08-25
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-08-25
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-08-25
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設(shè)計，完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-08-25
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-08-25
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-08-25
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-08-25
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-08-25
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來任意移動自己的臺式sem設(shè)備。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ plus桌面掃描電鏡是一款電鏡能譜一體機產(chǎn)品，擁有高分辨的同時可以做ebs，方便用戶進行亞微米及納米分析，提供業(yè)性、整體性掃描電鏡解決方案
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備，節(jié)約空間成本。
更新時間:2025-08-25
?em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來任意移動自己的臺式sem設(shè)備。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設(shè)備的同時確保高分辨成像功能的應(yīng)用，簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區(qū)域，同時實現(xiàn)納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗研究的所有需求。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備，節(jié)約空間成本。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ plus桌面掃描電鏡是一款電鏡能譜一體機產(chǎn)品，擁有高分辨的同時可以做ebs，方便用戶進行亞微米及納米分析，提供業(yè)性、整體性掃描電鏡解決方案
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備，節(jié)約空間成本。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備，節(jié)約空間成本。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ plus桌面掃描電鏡是一款電鏡能譜一體機產(chǎn)品，擁有高分辨的同時可以做ebs，方便用戶進行亞微米及納米分析，提供業(yè)性、整體性掃描電鏡解決方案
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據(jù)不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備，節(jié)約空間成本。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設(shè)備的同時確保高分辨成像功能的應(yīng)用，簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區(qū)域，同時實現(xiàn)納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗研究的所有需求。
更新時間:2025-08-25
?em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來任意移動自己的臺式sem設(shè)備。
更新時間:2025-08-25
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉室，內(nèi)含5軸多功能電動樣品臺，可輕松測量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉可同時安裝了多個樣本，減少樣品來回放置時因抽真空所使用的時間，從而達到快速分析測樣的目的，有效地提高檢測速度。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)）。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)）。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-08-25
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉室，內(nèi)含5軸多功能電動樣品臺，可輕松測量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉可同時安裝了多個樣本，減少樣品來回放置時因抽真空所使用的時間，從而達到快速分析測樣的目的，有效地提高檢測速度。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據(jù)不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據(jù)不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備，節(jié)約空間成本。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設(shè)備的同時確保高分辨成像功能的應(yīng)用，簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區(qū)域，同時實現(xiàn)納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗研究的所有需求。
更新時間:2025-08-25
?em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來任意移動自己的臺式sem設(shè)備。
更新時間:2025-08-25
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉室，內(nèi)含5軸多功能電動樣品臺，可輕松測量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉可同時安裝了多個樣本，減少樣品來回放置時因抽真空所使用的時間，從而達到快速分析測樣的目的，有效地提高檢測速度。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)）。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)）。
更新時間:2025-08-25
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